Твердомеры
Микроскопы
Анализ химического состава
Механические испытания
Исследования в нанодиапазоне

25.04.2017 г.
«Современные (передовые) системы электронной микроскопии и двулучевые системы FEI» г. Москва

16.05.2017 г.
«Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов»  г. Санкт-Петербург

23.05.2017 г.
«Современное аналитическое оборудование компании «BRUKER» для химического и структурного анализа» г. Москва

05.06.2017 г.
"Металлургия.Россия'2017" и "Литмаш.Россия'2017" Международные промышленные выставки по металлургии, оборудованию, технологиям и продукции г. Москва

07.06.2017 г.
Научно-техническая конференция для профессионалов аналитических, материаловедческих и испытательных лабораторий. г. Касли, Челябинская область.

24.10.2017 г.
«Testing & Control» 14-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования г. Москва

14.11.2017 г.
«Металл-Экспо» 23-я Международная промышленная выставка г. Москва

Архив

 

Архив


18.04.2017
Практический семинар по микроскопии, РФА и испытательной технике. г. Магнитогорск.

11.04.2017
"Аналитика Экспо" 15-я Международная выставка лабораторного оборудования и химических реактивов г. Москва

05.04.2017
«Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», г. Усть-Каменогорск, Казахстан

21.03.2017
«Практическое применение современного испытательного оборудования компаний Walter+Bai AG и Rumul AG для контроля физико-механических свойств материалов и основные решаемые задачи» г. Москва

14.03.2017
Мастер-класс по микроскопии и РФА, г. Новосибирск.

28.02.2017
«Экспо Контроль - 2017» 9-я специализированная выставка приборов и средств контроля, измерений и испытаний, г. Москва.

28.02.2017
"Композит-Экспо" 10-я международная специализированная выставка г. Москва

08.02.2017
«Современные настольные сканирующие электронные микроскопы компании «Phenom-World BV» (Нидерланды) – системы получения изображений и анализа» г. Москва

30.11.2016
«Современные настольные сканирующие электронные микроскопы компании «Phenom-World BV» (Нидерланды) – системы получения изображений и анализа»  г. Москва

22.11.2016
«Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов» г. Ижевск

08.11.2016
«Металл-Экспо» 22-я Международная промышленная выставка г. Москва

31.10.2016
Курсы «Профессиональная материалография» г. Москва

25.10.2016
«Testing & Control» 13-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования г. Москва

04.10.2016
Cеминар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», г. Екатеринбург.

27.09.2016
XX Менделеевский съезд. Выставка «ХИМИЯ: Наука. Промышленность. Образование 2016», г. Екатеринбург.

20.09.2016
Семинар «Современное оборудование для материалографических исследований» г. Москва

13.09.2016
Выставка «Цветные металлы и минералы – 2016».

28.06.2016
Мастер-класс «Практическое применение микроскопов: Phenom XL/ DSX 500/ LEXT 4100. Работа с Вашими образцами» г. Екатеринбург.

24.05.2016
Семинар «Современное аналитическое оборудование производства компании «BRUKER» для проведения количественного элементного и фазового анализа» г. Москва

17.05.2016
Семинар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов» г. Челябинск.


Новости 1 - 20 из 159
Начало | Пред. | 1 2 3 4 5 6 7 8 | След. | Конец Все

ООО "МЕЛИТЭК"
Тел/факс в Москве: +7 (495) 781-07-85
Тел/факс в Санкт-Петербурге: +7 (812) 380-84-85
Тел/факс в Екатеринбурге: +7 (343) 287-12-85
Тел/факс в Киеве: +380 (44) 454-05-90
Тел/факс в Таллине: +372 658 1291
E-mail:
Web: www.melytec.ru


 
Карта сайта