Анализ химического состава

D8 FABLINE


Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности

D8 FABLINE

Дифрактометр D8 FABLINE специально разработан для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, D8 FABLINE позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности.

  • Исследование пластин размером от 6“ до 300 мм
  • Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца
  • Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом
  • Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов
  • D8 FABLINE может быть оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин
  • Сенсорный экран делает работу с системой более удобной
Подробнее (Pdf. Англ)



ООО "МЕЛИТЭК"
Тел/факс в Москве: +7 (495) 781-07-85
Тел/факс в Санкт-Петербурге: +7 (812) 380-84-85
Тел/факс в Екатеринбурге: +7 (343) 287-12-85
Тел/факс в Киеве: +380 (44) 454-05-90
Тел/факс в Таллине: +372 658 1291
E-mail:
Web: www.melytec.ru