Анализ химического состава

QUANTAX


Система ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов

QUANTAX

Рентгеноспектральный микроанализ – метод химического анализа состава твердых образцов, тонких слоев или частиц на электронных микроскопах и микрозондах. Используя нашу рентгеновскую систему энергодисперсионного (ЭДС) микроанализа QUANTAX можно определять одновременно все элементы от бериллия (4) до америция (95). Возможность получения информации об элементном составе с пространственным разрешением в 1 микрон и пределами обнаружения порядка десятых долей массового процента делают рентгеноспектральный микроанализ одним из наиболее чувствительных из доступных аналитических методов.

Система ЭДС микроанализа QUANTAX предназначена для рентгеноспектрального анализа на сканирующем и просвечивающем электронном микроскопе (РЭМ и ПЭМ), а также электронном микрозонде (ЭЗМА). Система с SDD кремниевым дрейфовым детектором XFlash без охлаждения жидким азотом адаптирована под все типы РЭМ и ПЭМ. Современный тип энергодисперсионного SDD детектора 5го поколения и мощный процессор обеспечивают быстрое сканирование за счет высокой скорости счета >750 000 имп/с. Низкое разрешение (до 123 эВ на линии Mn K?) детектора и полимерное входное окно позволяют проводить рентгенофлуоресцентный анализ от бериллия (4). Система снабжена программным обеспечением ESPRIT с интуитивным интерфейсом, которая включает количественный анализ, в том числе и бесстандартный, расширенную библиотеку линий для длинноволновой области, картирование и т.д.

Новая система дифракции на обратно рассеянных электронах QUANTAX CrystAlign EBSD дополняет результаты химического анализа образца (ЭДС) информацией о его структуре, что помогает аналитику лучше понять его материальные свойства. Система CrystAlign сконструирована таким образом, чтобы сделать фактически сложную технику EBSD намного более доступной для обычного пользователя.

Основные преимущества QUANTAX:

  • SDD кремниевый дрейфовый детектор XFlash со стабильным разрешением в 123 эВ на линии Mn K? при скорости счета 100 000 имп/с, размер чипа – 10, 30 или 40 мм2
  • Энергетическое разрешение детектора XFlash на линии C K? – 46 эВ, на линии F K? – 54эВ
  • Безазотный детектор охлаждается до -25о С и не требует никакого дополнительного обслуживания
  • Высокоскоростной блок электроники – гибридный (аналого-цифровой) процессор импульсов
  • Расширенная библиотека линий для длинноволновой области, включая N-линии
  • Новые возможности программного обеспечения ESPRIT благодаря сверхскоростному детектору XFlash:
  • спектроскопия в реальном времени
  • сверхбыстрое картирование
  • функция Hypermap с запоминанием всего спектра в каждой точке

Брошюра (Pdf. Рус)
Листовка (Pdf. Рус)


Возможно Вас заинтересует спектрометр другой модели:

ООО "МЕЛИТЭК"
Тел/факс в Москве: +7 (495) 781-07-85
Тел/факс в Санкт-Петербурге: +7 (812) 380-84-85
Тел/факс в Екатеринбурге: +7 (343) 287-12-85
Тел/факс в Киеве: +380 (44) 454-05-90
Тел/факс в Таллине: +372 658 1291
E-mail:
Web: www.melytec.ru