Ионные
микроскопы
НОВИНКИ
Ионные микроскопы
V400ACE FIB V400ACE FIB

Vion Plasma FIB Vion Plasma FIB

Ионные микроскопы (микроскопы с сфокусированным ионным пучком - FIB микроскопы).

В отличие от электронных микроскопов, ионные обладают рядом уникальных преимуществ, открывающих новые особые способности и возможности для исследования и непосредственного взаимодействия с исследуемым образцом.

Уникальность ионных микроскопов заключается в том, что вместо традиционного источника пучка выступают не электроны, а ионы, которые, благодаря своей значительно большей массе и размеру, позволяют как сканировать область образца и получать изображение, так и при высоких токах и энергиях выбивают атомы с поверхности образца – тем самым изменяя топологию и раскрывая ранее недоступные области для анализа. В v400ace используется ионная пушка на основе ионов галлия (Ga+), позволяющих проводить прецизионные и чистые поперечные срезы (Cross Section).