Сканирующий электронный микроскоп.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom™ G2.

Phenom G2 самый быстрый, эффективный и универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп. Уникальная конструкция позволяет применять его для решения большого числа разнообразных задач материаловедения, контроля качества на производстве, криминалистики, фармацевтики, научно-исследовательских задач и для обучения специалистов.

Компания Phenom-World предлагает две модели настольных сканирующих электронный микроскопов: Phenom G2 pure и Phenom G2 pro. Обе модели отличаются простотой в использовании и высокой скоростью работы.

Phenom G2 pure - экономичное решение, позволяющее получать изображения с высоким разрешением и увеличением до 17,000х. Это оптимизированная по своим характеристикам система, дающая лучшее отображение результата в своем классе. Высокая яркость, длительный срок службы CeB6 (гексаборид церия) источника и запатентованная система быстрой загрузки образцов обеспечивает оператору свободный доступ к широким возможностям.

Оптическая цифровая навигационная камера, моторизованный стол, интерактивный сенсорный экран и дружественный интерфейс помогают Вам легко перемещаться в интересующую область. Просто прикоснитесь на мониторе к интересующему участку изучаемого изображения и предметный столик автоматически переместит образец в эту область.

Переключение в электронный режим полностью автоматизировано и происходит при нажатии всего лишь одной кнопки. Для последующей работы и анализа полученные изображения можно сохранять на флэш-карту памяти USB 2.0 или на рабочий компьютер.

Уже через 10 минут обучения начинающие пользователи могут получать изображения с высоким разрешением.

Благодаря новой запатентованной вакуумной технологии загрузка образцов происходит очень быстро и безопасно. На микроскопе можно начинать работать уже через 30 секунд после загрузки образца.

Phenom G2 pro – наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom. Благодаря улучшенным техническим характеристикам детектора обратно рассеянных электронов, новому источнику электронов CeB6 (гексаборид церия) и новой обзорной цветной камере для навигации PhenomG2pro стал самым мощным настольным сканирующим электронным микроскопом. Функциональные возможности масштабирования (зума) обзорной навигационной камеры позволяют сократить промежуток между оптическим и сканирующим воспроизведением изображения. Диапазон увеличений сканирующего электронного микроскопа PhenomG2pro был увеличен и теперь составляет от 80 до 45,000 крат. Управление посредством сенсорного экрана и мыши обеспечивает еще более удобную и быструю работу на Phenom G2 pro, а также более точную навигацию. Кроме того, благодаря применению новой запатентованной технологии, уже через 30 секунд после загрузки образца можно получить изображение с высоким разрешением.

Phenom G2 pro – это платформа, которая предлагает автоматизированные решения с применением программного пакета Pro Suite.

Программный пакет Pro Suite включает набор специальных прикладных программ, позволяющих выделить максимум информации из изображения. Таким образом, практически все свойства образцов могут быть изучены с помощью системы Phenom G2 pro, укомплектованной программным пакетом Pro Suite.

Стандартные приложения Pro Suite:

• MeasureIT (от компании Olympus SIS) - Проведение измерений.
• Automated Image Mapping - Получение панорамных изображений.

Программа позволяет пользователям автоматически соединить несколько изображений с высоким разрешением в одно большое панорамное изображение. После определения интересующей области программа начинает сканирование при требуемом увеличении и разрешении. Изображения составляются в одно большое общее изображение, по которому можно перемещаться для более детального исследования. Отдельные изображения также могут быть сохранены в базе данных.

• Remote User Interface - Интерфейс удаленного доступа.

Программа позволяет осуществлять удаленный доступ к Phenom G2. Позволяет осуществлять взаимодействие с коллегами, находящимися на расстоянии друг от друга. Можно получать изображения образцов, сохранять их на USB, сетевом диске или локальном диске. Идеальное решение для удаленной демонстрации результатов в реальном времени во время презентации. По Вашему усмотрению интерфейс может позволять службе поддержки удаленно производить необходимые настройки для оптимизации работы на микроскопе.

Дополнительные приложения Pro Suite:

• Fibermetric - Измерение микро- и нановолокон.
• Автоматический анализ толщины волокон.
• Автоматическое измерение пор.
• Количество измерений на одном изображении от 1 до 1000.
• Сбор статистических данных осуществляется быстро и автоматически.
• Отсутствие влияния человеческого фактора.



• 3D Roughness Reconstruction - Измерение шероховатости и получение трехмерных объектов.
• Автоматическое измерение шероховатости Ra и Rz.
• Получение 2D или 3D изображений с цветной картой высот.
• Фильтры обработки изображения.
• Статистика.
• Построение профиля по высоте и по плоскости.

Держатели образцов

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom™ G2 может быть оснащен разнообразными специализированными держателями образцов. Таким образом, обеспечивается возможность изучать образцы из различных материалов всевозможной формы.

Стандартный держатель образцов.
Держатель предназначен для образцов различной произвольной формы. Образцы фиксируются на предметном столике. Диаметр образцов до 25мм, высота до 30мм.

Держатель для нетокопроводящих образцов.
Держатель предназначен для образцов различной произвольной формы. Образцы фиксируются на предметном столике. Диаметр образцов до 25мм, высота до 30мм. Наличие такого держателя устраняет потребность в дополнительной пробоподготовке нетокопроводящих образцов. Держатель предназначен для исследований таких материалов, как бумага, полимеры, органические материалы, керамика, стекло, материалы с покрытиями и т.п.

Держатель для материалографических образцов (шлифов).
Держатель предназначен для материалографических шлифов диаметром до 32мм и высотой до 30мм.

Держатель для нетокопроводящих материалографических образцов (шлифов).
Для нетокопроводящих материалографических шлифов диаметром до 32мм и высотой до 30мм. Наличие такого держателя устраняет потребность в дополнительной пробоподготовке нетокопроводящих материалографических образцов (шлифов).

Держатель для микро-инструмента и вытянутых по вертикали образцов.

• Диаметр образца до 10 мм.
• Длина образца до 100 мм.
• Возможность наклона и вращения образца во время работы.
• Угол наклона образца: от -5° до +40°.
• Угол поворота образца: от +35° до - 35°.

Вставка для изучения поперечного сечения образца.

Вставка предназначена для изучения образцов с покрытиями, многослойных образцов и т.п. Специальный механизм крепления позволяет фиксировать образцы без привинчивания или использования дополнительных инструментов и принадлежностей. Вставка используется в комбинации с держателем для материалографических образцов (шлифов).

Размеры образца (Ш x Д) 15 x 25 мм.

• Максимальная толщина 10 мм.
• Не требуются дополнительные приспособления для фиксации образца.
• Легкое позиционирование образца.
• Сохраняется изначальное состояние образца.

Вставка для изучения образцов микроэлектроники.

Вставка предназначена для изучения полупроводников, микроэлектронных компонентов, фотоэлементов солнечных батарей. Уникальный механизм крепления обеспечивает фиксацию образца без приклеивания или контакта с поверхностью. Вставка используется в комбинации с держателем для материалографических образцов (шлифов).

• Размер образца (Ш x Д) от 10 x 10 мм до 19 x 19 мм.
• Не требуются дополнительные приспособления для фиксации образца.
• Без приклеивания.
• Легко снимать образцы после исследований.
• Сохраняется первоначальное состояние образца.

ООО "МЕЛИТЭК"
Тел/факс в Москве: +7 (495) 781-07-85
Тел/факс в Санкт-Петербурге: +7 (812) 380-84-85
Тел/факс в Екатеринбурге: +7 (343) 287-12-85
Тел/факс в в Киеве: +380 (44) 454-05-90
E-mail:
Web: www.melytec.ru