Анализ химического состава

Инспекционные микроскопы


Серия МХ51

Компактные инспекционные микроскопы МХ51 Olympus для исследования и проверки электронных компонент

Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент. Возможна интеграция с новой оптикой и устройствами для загрузки плат и компонент.

Данная серия оптимизирована для исследования электронных компонентов, включая магнитные головки и полупроводники, и обеспечивает чистое, высококонтрастное изображение исследуемых компонентов

Подробнее (Pdf. Рус.)

Подробнее (Pdf. Рус.)


MX61 / MX61L

Прямые полупроводниковые инспекционные микроскопы MX61 и MX61L Olympus для исследования и проверки электронных компонент

Прямой инспекционный микроскоп.

Учитывая большой опыт в данной области промышленности и материаловедении, Olympus предлагает многие решения, позволяющие инспектировать электронные компоненты легче, быстрее и более эффективно.

MX61/MX61L — полупроводниковый инспекционный микроскоп, был специально разработан для исследования подложек и плат. Данный микроскоп позволяет оператору работать в удобной позиции, тем самым увеличивая комфортное время для инспекции. Максимальны продуктивность и интеграция с инструментами в рабочей области.

Подробнее (Pdf. Рус.)



ООО "МЕЛИТЭК"
Тел/факс в Москве: +7 (495) 781-07-85
Тел/факс в Санкт-Петербурге: +7 (812) 380-84-85
Тел/факс в Екатеринбурге: +7 (343) 287-12-85
Тел/факс в в Киеве: +380 (44) 454-05-90
Тел/факс в Таллине: +372 658 1291
E-mail:
Web: www.melytec.ru