Инспекционные
микроскопы
НОВИНКИ
Инспекционные микроскопы
MX51 MX51

MX63 MX63


Инспекционный микроскоп серии MX предназначен для исследования материалов и компонентов используемых в микроэлектронной промышленности - полупроводники, кремниевые пластины, кристаллы, устройства хранения информации, ЖК-дисплеи, MEMS (микроэлектромеханические схемы), светодиоды и пр. Микроскопы серии MX могут быть оснащены для наблюдения по следующим методам контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризованный свет, ДИК Номарского, флуоресценция, ИК. Эргономика органов управления обеспечивает комфорт работы на протяжении долгого времени.