Исследование коррозионных процессов с помощью LEXT OLS5000 от компании Olympus

Построение точной трехмерной модели и контроль профиля поверхности важны не только в таких областях, как микроэлектроника, точное машиностроение, триботехника, но и в исследовании коррозионных процессов. Так используя сканирующий микроскоп Olympus LEXT OLS5000 возможно получать точные модели профиля поверхности до начала коррозионных испытаний и через определенные промежутки времени нахождения образца в испытательной камере.
Таким образом, исследователь получает возможность следить за динамикой и характером воздействия коррозионной среды на поверхность образца.

Подробнее о микроскопе LEXT OLS5000 здесь.