Исследование и разработка новых материалов, основанных на волокнах, на микроскопе Phenom от компании Thermo Scientific

В сканирующем электронном микроскопе волокна можно не только визуализировать с высоким увеличением и разрешением, но и испытать, растягивая их на столике для испытаний на растяжение или с помощью изменения температуры, получаемой с использованием столика с контролируемой температурой. Поперечные сечения волокон можно исследовать с большим увеличением и измерением размеров с высокой точностью. Благодаря этому, можно использовать СЭМ, чтобы сопоставить время воздействия и концентрацию химических веществ, применяемых при обработке волокон для достижения необходимых параметров, чтобы оптимизировать производство и снизить ненужные затраты.

Текстильные материалы, как правило, непроводящие, поэтому СЭМ Phenom с базовой опцией работы в низком вакууме имеет все необходимое для получения качественных изображений.

В дополнение к базовым характеристикам, существует программное обеспечение, разработанное компанией Thermo Scientific, для автоматического подсчета диаметра и параметров волокон. Оно позволяет упростить анализ и получать результат в виде готового отчета в кратчайшие сроки.

Рисунок 1 и 2: изображение шерсти, полученное с помощью сканирующего электронного микроскопа с различным увеличением и под разными углами.