Исследование залитых в смолу образцов с помощью электронного микроскопа Thermo Scientific Phenom

Настольный СЭМ Phenom может вмещать стандартные залитые в смолу образцы диаметром от 25 мм до 40 мм, а так же исследовать образцы, как залитые в специализированную проводящую смолу (для исследования в СЭМ), так и в обычную непроводящую смолу, без необходимости напыления проводящего слоя.

Целью заливки образцов является защита хрупких образцов или покрытий для проведения пробоподготовки, чтобы в результате получить требуемую поверхность и/или четкие края. Заливка также используется, чтобы привести образцы неправильной или неудобной для анализа формы к одному стандартному размеру для облегчения их установки в электронный микроскоп.

Механическая подготовка является наиболее распространенным методом подготовки материалографических или металлографических образцов для микроскопического исследования. После заливки образцы разрезают, шлифуют и полируют. С каждым последующим шагом используются всё более мелкие абразивные частицы для удаления материала с поверхности, пока не будет достигнут требуемый результат.

Как правило, такие залитые в смолу образцы имеют несколько диаметров стандартного размера. 32 мм или 1 ¼ дюйма — это диаметр, наиболее часто используемый для оптических, а также электронно-оптических (СЭМ) исследований.

Залитые образцы имеют плоскую и идеально подготовленную поверхность, что является требованием для количественных результатов ЭДС анализа. Однако нижняя поверхность может быть очень шероховатой или даже скошенной. Держатели и вставки образцов для настольных СЭМ Phenom сконструированы таким образом, что верхняя поверхность этих образцов всегда хорошо выровнена, что позволяет без труда устанавливать их в электронный микроскоп и проводить большое количество исследований за меньшее время.

Рис. 1: Залитые в смолу образцы.

Рис 2: Изображение полированной поверхности слоя плазменного напыления на стальном образце (слева), а так же результат элементного анализа слоя (справа).