Компания Physical Electronics (PHI) представила обновление линейки спектрометров VersaProbe и nanoTOF

ООО «Мелитэк» является официальным представителем компании Physical Electronics (PHI) в России и странах СНГ — ведущего мирового производителя оборудования для анализа поверхности материалов в сверхвысоком вакууме. Эти системы предназначены для исследования и разработки передовых материалов в области высоких технологий, включая нанотехнологии, микроэлектронику, носители данных, биомедицину, а также анализа металлов, полимеров и покрытий. Благодаря использованию методов XPS, AES, SIMS и инновационных технологий от компании PHI, мы готовы предложить нашим клиентам уникальные инструменты для решения сложных материаловедческих задач, которые призваны ускорить разработку новых продуктов и материалов.

Компания Physical Electronics (PHI) представила обновление линейки спектрометров VersaProbe и nanoTOF.

Фотоэлектронный спектрометр VersaProbe IV это:

  • высокая чувствительность при анализе малых и больших площадей с использованием микросфокусированного сканирующего источника рентгеновского излучения;
  • рентгеновская визуализация во вторичных электронах (SXI) для навигации по большой площади; химическое картирование на большой площади;
  • несколько вариантов ионных пушек для профилирования по глубине образцов из различных органических, неорганических и смешанных материалов;
  • расширенное программное обеспечение для анализа структуры тонких пленок;
  • автоматизация и удаленное управление;
  • эффективное энергопотребление, более быстрая откачка и эргономичный дизайн.

Времяпролётный спектрометр TOF-SIMS 7-го поколения nanoTOF III это:

  • эргономичный дизайн, уменьшенная занимаемая площадь и пониженное энергопотребление; полностью автоматизированная конструкция столика с парковкой в вакууме для достоверных и высокопроизводительных исследований образцов;
  • кластерный ионный эмиттер висмута LMIG с улучшенным пространственным разрешением;
  • гибко настраиваемая система проектов для автоматического анализа и максимальной эффективности использования оборудования;
  • полностью удаленное управление и расширенная удаленная диагностика;
  • двулучевая нейтрализация заряда. Комбинация импульсных низкоэнергетичных электронов и низкоэнергетичных ионов Ar+ для достоверного анализа диэлектриков как для положительной, так и для отрицательной полярности ионов;
  • MS/MS спектрометрия с параллельной визуализацией позволяет перейти от принципа идентификации пиков «Я думаю» к «Я знаю!». Плоские и большие образцы легко анализируются с помощью трехфокусного масс-анализатора 7-го поколения PHI;
  • высокочувствительный тандемный масс-спектрометрический анализ без потерь для пиков вплоть до содержания <20 ppm.

  • Ссылка на источник здесь.