Применение стереомикроскопа SZX10 для исследования дефектов подшипников от компании Olympus

Особенностью стереомикроскопов является большая глубина фокуса и высокое разрешение изображения при сравнительно малых увеличениях (до 200х), а также наблюдения объекта в стерео режиме. Благодаря этим особенностям стереомикроскоп идеально подходит для исследования дефектов и следов разрушения, имеющих высокий перепад высоты, который ограничивает применение обычных прямых микроскопов. Ниже представлены фотографии поверхности подшипников качения после разрушения в процессе эксплуатации. Исследование разрушений с помощью стереомикроскопа помогает инженеру выявить вид разрушения, а так же определить его причину.

Стереомикроскопы Olympus серии SZX2 сочетают в себе высокую разрешающую способность оптики (до 1,1 мкм), полный набор методов оптического контрастирования, апохроматическую корректировку аберраций и широкий диапазон увеличений при высокой глубине фокуса, что позволяет выявлять мельчайшие детали на образцах любого типа и сложности.

  • Следы вырывания материала на дорожке качения упорного шарикоподшипника, увеличение 10х (рис. 1).
  • Следы вырывания материала на дорожке качения упорного шарикоподшипника, увеличение 63х. Заметны микротрещины, появляющиеся перед вырыванием материала (рис. 2).
  • Следы отслаивания поверхностного слоя металла на дорожке качения внутреннего кольца шарикоподшипника, увеличение 12,5х (рис. 3).