Многофункциональный дифрактометр D8 DISCOVER

Дифрактометр для нанотехнологий

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

D8 DISCOVER Plus — модификация дифрактометра D8 DISCOVER, включающая в себя высокоэффективный источник рентгеновского излучения с вращающимся анодом Turbo X-ray Source (TXS-HE) и высокоточный гониометр ATLAS. Использование источника TXS-HE существенно сокращает время измерения по сравнению с традиционными рентгеновскими трубками и обеспечивает более высокое качество данных, что позволяет получать новые сведения об исследуемых материалах. Передовая конструкция вертикального гониометра ATLAS обеспечивает высокую точность углового позиционирования, что повышает надежность получаемых данных для всех применений. Высокая прочность гониометра дает возможность собрать конфигурацию дифрактометра для решения любых задач рентгеновской дифрактометрии. Использование источника TXS-HE и гониометра ATLAS в сочетании с новым детектором EIGER2 R 500K, обладающим высоким динамическим диапазоном и большой активной площадью, обеспечивает непревзойденные возможности для решения аналитических задач в исследовании материалов. Благодаря сочетанию передовых компонентов дифрактометр D8 DISCOVER Plus задает новые стандарты возможностей и качества в рентгеновской дифрактометрии.

  • Градиентная параллельно-лучевая оптика — зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
  • Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
  • Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
  • Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
  • Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
  • Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
  • Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения
Применение Cтруктурный и фазовый анализ, Напряжение и текстура, Некомпланарная дифракция и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, Картирование обратного пространства, Высокоразрешающая рентгеновская дифракция, Рентгеновская рефлектометрия
Тип многофункциональный
Исполнение напольный
Детектор линейный, линейный энергодисперсионный, двумерный, сцинтилляционный
Мощность генератора 3 кВт
Подробнее

Фото продукции