Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX EBSD

Фото продукции
  • Описание
  • Скачать
QUANTAX EBSD – СИСТЕМА ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ
  • • Быстрое картирование и получение результатов одновременно по элементному составу с по- мощью EDS и кристаллической структуре и текстуре с помощью EBSD с быстродействием до 930 точек/с.
  • • Серия детекторов дифракции обратно рассеянных электронов e-Flash EBSD с вертикальнымпозиционированием для получения наилучшего EBSD-сигнала.
  • • Скорость картирования ориентации кристаллитов – 630 точек/с (сортировка 4 x 4) или 930 точек/с (сортировка 8 x 8) с помощью детектора e-Flash1000.
  • • Сбор карт с высоким разрешением с помощью e-FlashHR, предоставляющего снимки образцов с разрешением до 1600 x 1200 точек. Скорость сбора 140 точек/с (сортировка 10 x 10) и 170 то- чек/с (сортировка 20 x 20). Также поддерживаются измерения при низком ускоряющем напряжении (до 5 кВ) и низких токах пучка (до 0,1 нА).
  • • Направляющее устройство с точностью позиционирования на люминесцентном экране <10 мкм.
  • • Уникальная функция автоматического отвода детектора после завершения измерения.
Похожая продукция
Центральный офис в г. Москва +7 (495) 781-07-85 info@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Санкт-Петербург +7 (812) 380-84-85 infospb@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Екатеринбург +7 (343) 287-12-85 infoural@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Киев +38 (044) 454-05-90 infoua@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Tallinn +372 5620-3281 info@melytec.ee Детальный просмотр