Сканирующий микроскоп FEI Apreo

• Описание
• Технические характеристики
• Видео
• Скачать

					Array
(
    [0] => Array
        (
            [TEXT] => • Электронная колонна высокого разрешения с полевой эмиссией Шоттки, включает: 
        

       - Высокостабильный источник полевой эмиссии Шоттки обеспечивает стабильные высокие токи в сочетании с высокой разрешающей способностью 
        

       - Комбинированная конечная линза: сочетание электростатического поля, безполевого магнитного и иммерсионной магнитной объективной линзы. 
        

       - Угол объективной линзы в 60°: позволяет наклонять большие образцы 
        

       • Автоматически очищаемые за счет подогрева диафрагмы обеспечивают стабильную работу 
        

       • Дифференциальная откачка через линзу для низкого вакуума уменьшает расщепление пучка электронов, что увеличивает точность анализа и разрешающую способность. 
        

       • Функция замедления пучка с диапазоном от -4000 В до +600 В 
        

       • Непрерывный контроль тока пучка и оптимизированный угол раскрытия конечной линзы 
        

       • Двухступенчатая технология отклонения пучка 
        

       • Простота в установке и настройке пушки, техническое обслуживание – авто отжиг пушки, авто старт, отсутствуют механических юстировок. 
        

       • Гарантированное время жизни источника: 12 месяцев.
            [TYPE] => html
        )

    [1] => Array
        (
            [TEXT] => • Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, иммерсионный режим 
        

       - 0,8 нм при 30кВ (STEM) 
        

       - 0,9 нм при 15 кВ 
        

       - 1,0 нм при 1 кВ 
        

       - 1,2 нм при 500 В 
        

       - 2,5 нм при 100 В 
        

       • Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля 
        

       - 0,8 нм при 30 кВ (STEM) 
        

       - 1,0 нм при 15 кВ 
        

       - 1,3 нм при 1 кВ 
        

       • В режиме низкого вакуума, оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля 
        

       - 1,2 нм при 15 кВ 
        

       - 1,8 нм при 3 кВ
            [TYPE] => html
        )

    [2] => Array
        (
            [TEXT] => Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик 
        

       Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм 
        

       Воспроизводимость результатов: < 3,0 мкм (при наклоне 0°) 
        

       Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм 
        

       Поворот: n x 360° 
        

       Наклон: -15° / +90° 
        

       Максимальная высота образца: Расстояние 85 мм до точки Вцентрика 
        

       Максимальный вес образца: 500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°) 
        

       Максимальный размер образца: Ø122 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено) 
        

       • Стандартно поставляется уникальный стол-держатель для различных задач, на который можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°), при этом не требуется инструментов для установки образцов. 
        

       • Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками 
        

       • Держатель печатных плат и другие держатели по заказу
            [TYPE] => html
        )

    [3] => Array
        (
            [TEXT] => • Внутренняя ширина: 340 мм 
        

       • Аналитическая рабочая дистанция: 10 мм 
        

       • Установка до трех детекторов EDS, два из которых расположены друг напротив друга (под углом 180°) 
        

       • Копланарное расположенные (в одной плоскости) EDS/EBSD и осью наклона столика
            [TYPE] => html
        )

    [4] => Array
        (
            [TEXT] => Apreo может регистрировать до четырех сигналов одновременно из любой комбинации из имеющихся детекторов или сегментов детектора. 
        


       • Тройная система детектирования (внутрилинзовая и внутри колонны) 
        

       - Т1 – нижний внутрилинзовый детектор, разделенный на сегменты 
        

       -  Т2 – верхний внутрилинзовый детектор 
        

       -  T3 – внутриколонный детектор 
        

       • ETD – детектор вторичных электронов Верхарта-Торнли 
        

       • DBS – выдвижной сегментированный детектор ООЭ 
        

       • Детектор вторичных электронов для низкого вакуума 
        

       • DBS-GAD монтирующийся на линзу газовый аналитический детектор ООЭ 
        

       • STEM 3+ - выдвижной сегментированный детектор для просвечивающей микроскопии (BS, DF, HADF, HAADF) 
        

       • Инфракрасная камера для контроля положения образца 
        

       • Nav-Cam+ цветная цифровая камера для простой навигации по образцу
            [TYPE] => html
        )

    [5] => Array
        (
            [TEXT] => • Безмасляная вакуумная система 
        

       • 1х220 л/с TMP (турбомолекулярный насос) 
        

       • 1хPVP (форвакуумный насос) 
        

       • 2 ионно-геттерных насоса 
        

       • Уровень вакуума в камере (высокий) < 6,3e–6 мбар (после 72 часов откачки) 
        

       • Время откачки: ≤3,5 мин 
        

       • Режим низкого вакуума (опционально) 
        

       • Давление в камере при низком вакууме от 10 до 500 Па 
        

       • Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками 
        

       • Держатель печатных плат и другие держатели по заказу
            [TYPE] => html
        )

    [6] => Array
        (
            [TEXT] => • Система очистки образца/камеры: система криогенной чистки FEI Cryocleaner, интегрированная система плазменной чистки FEI 
        

       • Анализ: EDS, EBSD, WDS, CL, Raman 
        

       • Система быстрой загрузки образца QuickLoader 
        

       • Навигация: Навигационная камера, корреляционная навигация, программное обеспечение для сшивки MAPS 
        

       Газовая инжекционная система (GIS) FEI: до 2 устройств (другие опции могут ограничить количество доступных систем GIS) для осаждения следующих материалов: 
        

       - Платина 
        

       - Вольфрам 
        

       - Углерод 
        

       • Манипуляторы 
        

       • Криостолик 
        

       • Электрическое зондирование 
        

       • Электростатическая блокировка пучка
            [TYPE] => html
        )

    [7] => Array
        (
            [TEXT] => •  64-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows 7, клавиатура, оптическая мышь 
        

       • 24-дюймовый ЖК-монитор, WUXGA 1920 x 1200 (второй монитор – опция 
        

       • Настраиваемый графический интерфейс с возможностью выбора до 4-х одновременно активных окон 
        

       • Регистрация изображения 
        

       • Встроенная навигация 
        

       • Программное обеспечение для анализа изображения 
        

       • Функция отмены и повтора (после отмены) действия 
        

       • Гид пользователя для простых операций/приложений 
        

       • Джойстик (опционально) 
        

       • Многофункциональное контрольное устройство управления (опционально)
            [TYPE] => html
        )

    [8] => Array
        (
            [TEXT] => • Время получения изображения 0,025 – 25000 мкс/пикс. 
        

       • Размер до 6144 х 4096 пикс. 
        

       • Тип файла: TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG 
        

       • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах 
        

       • Технология сканирования SmartSCAN (до 256 интегрированных изображений в одном) 
        

       • DCFI (компенсация дрейфа)
            [TYPE] => html
        )

    [9] => Array
        (
            [TEXT] => • Система для автоматизированного получения больших изображений и корреляционной работы MAPS 
        

       • iFast для дополнительно автоматизации 
        

       • Программное обеспечение для архивации данных в сети 
        

       • Программное обеспечение для анализа изображений
            [TYPE] => html
        )

    [10] => Array
        (
            [TEXT] => • Стандартно поставляется держатель для различных задач, уникальный тем, что устанавливается непосредственно на столик, и на него можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°) 
        

       • Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками 
        

       • Держатель печатных плат и другие держатели по заказу*
            [TYPE] => html
        )

    [11] => Array
        (
            [TEXT] => • Электропитание: 
        

       - напряжение 100 - 240 В (+6%, –10%) 
        

       -  частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) 
        

       - Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации 
        

       • Сопротивление заземления: < 0,1 Ом 
        

       • Условия эксплуатации: 
        

       -  температура (20±3) °C 
        

       -  относительная влажность не более 80% (без конденсата) 
        

       -  уровень паразитных ЭМП с переменным  напряжением: < 40 нТ асинхронные поля, < 100 нТ синхронные поля 
        

       • Габариты дверного проёма: 0,9 м (ширина) х 1,9 м (высота) 
        

       • Вес микроскопа с колонной: 980 кг 
        

       • Рекомендуется чистый азот для напуска в систему 
        

       • Сжатый воздух (4 – 6) бар. Должен быть чистый, сухой и не содержать масла. 
        

       • Система охлаждения - наличие 
        

       • Уровень шума (требуется обследование места установки) 
        

       • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации) 
        

       • Виброизоляционный стол поставляется по доп. заказу
            [TYPE] => html
        )

)