Сканирующий микроскоп FEI - MLA 650

Фото продукции
  • Описание
  • Технические характеристики
  • Видео
  • Скачать
					Array
(
    [0] => Array
        (
            [TEXT] => • Режим естественной среды    (ESEM™)
• Два энергодисперсионных рентгеновских спектрометра с кремниевыми дрейфовыми детекторами (EDS)
•Программное обеспечение QEMSCAN и ПО для сканирования и обработки сигнала (eSCAN и eXRAY),
• Петрографический анализатор (анализ состава и структуры)
• Основа: сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом
• Минеральная классификация с помощью алгоритмов элементного анализа (SIP)
• Высокая скорость (до 200 измерений в секунду)
• Возможность автоматического анализа
• Возможность проведения количественного анализа
• Возможность анализа отдельных частиц
•Шаблоны отчетов для различных отраслей промышленности: нефтегазовой, горнодобывающей и т.д.
• Наименьший размер исследуемой частицы: 1 мкм
• Годовая подписка предусматривает всестороннюю поддержку и лицензию на обновление программного обеспечения [TYPE] => html ) [1] => Array ( [TEXT] => • Высокий вакуум
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
- 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*
- 8,0 нм при 3 кВ (SE)
• Высокий вакуум в режиме торможения пучка
- 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD*)
• Низкий вакуум
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
- 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*
- 10,0 нм при 3 кВ (SE)
• Режим естественной среды (ESEM)
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
• Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ
• Ток зонда: до 2 мкА с плавной регулировкой
• Увеличение: 13–1 000 000 x [TYPE] => html ) [2] => Array ( [TEXT] => Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик
Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм
Поворот: n x 360°
Наклон: -15° / +70°
Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний [TYPE] => html ) [3] => Array ( [TEXT] => • Ширина: 379 мм
• Аналитическое рабочее расстояние 10 мм
• Количество портов: 8
• Угол выхода для детектора EDS: 35° [TYPE] => html ) [4] => Array ( [TEXT] => EDS (энергодисперсионная система)
• Безазотные кремниевые дрейфовые детекторы
• Активная площадь детектирования: 2 x 30 мм2
• Разрешение по энергии: ≤ 133 В
• Средняя скорость счета: 800 000 имп/c
• Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли
• Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD)
• Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM)
• ИК-камера для контроля положения образца в камере
• Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу*
• Направленный детектор обратно отраженных электронов (DBS)*
• Газовый аналитический BSED (GAD)*
• Детектор прошедших электронов (STEM)*
• Внутриколонный детектор (ICD) для режима торможения пучка*
• Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM*
• Cсцинтиллятор BSED/CLD*
• vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)*
• Измерение тока электронного пучка* [TYPE] => html ) [5] => Array ( [TEXT] => • 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос)
• Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу
• Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм
• Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу
• Вакуумная камера (высокий) • Вакуумная камера (низкий) • Режим ESEM • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI [TYPE] => html ) [6] => Array ( [TEXT] => Отчетность
•3D диаграммы
•2D диаграммы
•XY диаграммы
•Модальный анализ
•Изображение частиц
•Отчеты о степени свободы минералов
•Тройные диаграммы
•Ратификация данных
•Перевод данных в формат таблицы
•Растр – градуирует измерение по X и Y осям с целью визуализации геометрических свойств зерен и их расположения
•Intercept length distribution - распределение длин отрезков
•Минеральные ассоциации
•Анализ восстановления
•Теоретическое соотношение :содержание/извлечение
•Индивидуальная настройка отчетов
•Drill down reports - Детальные отчеты
•Экспорт данных и изображений
•Интерактивные сводки
•Набор установок, которые распределяют измеренные частицы на категории: - По минеральному составу - По элементному составу - По полученным значениям - Простые и комплексные частицы [TYPE] => html ) [7] => Array ( [TEXT] => • Источники данных могут анализироваться отдельно, вместе взятых, или по сравнению
• Расчеты:
- свойства элементарных частиц
- свойства зерна
- Режимное минералогии
- Анализ - рассчитывается из минеральных композиций
- Элементарный распределение по минералов
- Восстановление полезных ископаемых оценка
- Восстановление класса Element
-- Распределение частиц по размерам
- Минеральное распределение зерен по размерам
- Распределение плотности частиц
- Минеральные ассоциации
- Минеральное замок
- ОУМР - фаза удельная площадь поверхности
- Минеральное освобождение от состава частиц
- Минеральное освобождение от свободной поверхности
• Составление отчетов
- Шаблоны - используемые для настройки и запустить серию расчетов, могут быть экспортированы в различные форматы, включая Excel, Word, текст и базы данных
- Экспорт Буфер обмена
- DataSource фильтры
- Предустановленные и пользовательские классы освободительные
- Минеральные группировки
- Просмотр, сортировать и фильтровать изображения частиц в пределах определенного источник данных [TYPE] => html ) [8] => Array ( [TEXT] => • Разрешение до 6144 x 4096 пикселей
• Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG
• Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах
• 4-квадранта, прямая трансляция
• Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого
• усреднение или интегрирование 256 кадров
• Запись цифрового видеоизображения (.avi)
• Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение [TYPE] => html ) [9] => Array ( [TEXT] => • Системный менеджер MLA - SEM и EDS интерфейс и лицензирование
• MLA мера - модуль сбора данных, включает в себя уведомление по электронной почте при запуске завершении или прерывании
• MLA Редактор справочника минералов - позволяет создавать и изменять записанные в справочник минералы и стандарты
• MLA обработчик изображений - модуль анализа данных
• MLA инструмент передачи данных -  модуль управления проектами и данными
• MLA DataView - выборка из базы данных и модуль отчетов
• Встроенная база данных с Рентгеновскими спектрами  минералов и данных о свойствах более 500 минералов
• Минеральные свойства: индекс, название, присвоенный цвет (в петрографическом изображении), плотность, средний атомный номер, химическая формула, элементный состав, опорный спектр СЭД
• Пользователь может добавлять минеральные стандарты
• Возможность простого перемещения минеральных стандартов от одного файла стандарта в другой
• микширование Спектр: спектры из различных минералов могут быть смешаны используя различные пропорции для создания псевдо-спектров, которые могут быть добавлены в файл минеральных стандартов, для решения проблем с границами фаз (где объем  взаимодействия EDX распространяется через границы минерала)
• Калькулятор состава: элементный состав можно рассчитать от химических формул и автоматически обновлять свойства минералов  [TYPE] => html ) [10] => Array ( [TEXT] => • Торможение пучка
• Ручной пользовательский интерфейс
• Вспомогательный ПК (включая второй  24-дюймовый монитор)
• Блок переключателей с программным управлением
• Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением
• Система WetSTEMTM с программным управлением
• Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением
• Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением
• Система криогенной очистки Cryocleaner
• Запасная ёмкость для Cryocleaner
• Газоинжекционные системы (GIS): до 2 устройств (другие виды вспомогательного оборудования могут накладывать ограничения на количество доступных газоинжекционных систем) для индуцированного электронным пучком  осаждения следующих материалов:
- Платина
- Вольфрам
- Углерод
• Прототипирование: интегрированное 16-битное приложение для формирования изображения, электронно-лучевая литография
• Джойстик
• AAS (автоматическая система настройки апертуры)
• Измеритель тока образца
• Программное обеспечение для дистанционного управления
• Комплект держателей образцов
• Акустический чехол для вакуумного насоса
• 7- или 52-контактный электрический вывод
• Электростатический бланкер пучка
• Комплект оснащения системой WDS
• Опциональная безмасляная система предварительного вакуума по дополнительному заказу (двойные спиральные вакуумные насосы)
• Встроенная система плазменной очистки [TYPE] => html ) [11] => Array ( [TEXT] => • Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %)
• Потребляемая мощность: • Сопротивление заземления: • Условия эксплуатации: температура 20 °C +/– 3 °С, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным  напряжением
• Ширина дверного проёма: 90 см
• Вес микроскопа с колонной: 530 кг
• Вес: электронного блока управления: 139 кг
• Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования)

• Сжатый воздух 4–6 бар — чистый, сухой, безмасляный
• Охладитель системы требуется лишь в том случае, если условия в помещении не соответствуют техническим условиям, приведённым в руководстве по предварительной установке
• Уровень шума: • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола)
• Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу [TYPE] => html ) )
MLA 650 - созданная на базе сканирующего электронного микроскопа Quanta 650 с двумя предустановленными EDS-спектрометрами автоматизированная высокопроизводительная система для анализа минералов. Используя интегрированное оборудование и мощное специализированное программное обеспечение, данные микроскопы способны определять большинство минералов. Это единственные системы в мире, для которых возможен полностью автоматизированный анализ петрографических образцов.
Особенности • Режим естественной среды (ESEM™)
• Два энергодисперсионных рентгеновских спектрометра с кремниевыми дрейфовыми детекторами (EDS)
•Программное обеспечение QEMSCAN и ПО для сканирования и обработки сигнала (eSCAN и eXRAY),
• Петрографический анализатор (анализ состава и структуры)
• Основа: сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом
• Минеральная классификация с помощью алгоритмов элементного анализа (SIP)
• Высокая скорость (до 200 измерений в секунду)
• Возможность автоматического анализа
• Возможность проведения количественного анализа
• Возможность анализа отдельных частиц
•Шаблоны отчетов для различных отраслей промышленности: нефтегазовой, горнодобывающей и т.д.
• Наименьший размер исследуемой частицы: 1 мкм
• Годовая подписка предусматривает всестороннюю поддержку и лицензию на обновление программного обеспечения
Характеристики электронной пушки • Высокий вакуум
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
- 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*
- 8,0 нм при 3 кВ (SE)
• Высокий вакуум в режиме торможения пучка
- 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD*)
• Низкий вакуум
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
- 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*
- 10,0 нм при 3 кВ (SE)
• Режим естественной среды (ESEM)
- 3,0 нм при 30 кВ (SE)
• Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ
• Ток зонда: до 2 мкА с плавной регулировкой
• Увеличение: 13–1 000 000 x
Предметный столик Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик
Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм
Поворот: n x 360°
Наклон: -15° / +70°
Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний
Рабочая камера • Ширина: 379 мм
• Аналитическое рабочее расстояние 10 мм
• Количество портов: 8
• Угол выхода для детектора EDS: 35°
Детекторы EDS (энергодисперсионная система)
• Безазотные кремниевые дрейфовые детекторы
• Активная площадь детектирования: 2 x 30 мм2
• Разрешение по энергии: ≤ 133 В
• Средняя скорость счета: 800 000 имп/c
• Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли
• Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD)
• Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM)
• ИК-камера для контроля положения образца в камере
• Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу*
• Направленный детектор обратно отраженных электронов (DBS)*
• Газовый аналитический BSED (GAD)*
• Детектор прошедших электронов (STEM)*
• Внутриколонный детектор (ICD) для режима торможения пучка*
• Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM*
• Cсцинтиллятор BSED/CLD*
• vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)*
• Измерение тока электронного пучка*
Вакуумная система • 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос)
• Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу
• Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм
• Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу
• Вакуумная камера (высокий) • Вакуумная камера (низкий) • Режим ESEM • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI
Дополнительные аналитические возможности Отчетность
•3D диаграммы
•2D диаграммы
•XY диаграммы
•Модальный анализ
•Изображение частиц
•Отчеты о степени свободы минералов
•Тройные диаграммы
•Ратификация данных
•Перевод данных в формат таблицы
•Растр – градуирует измерение по X и Y осям с целью визуализации геометрических свойств зерен и их расположения
•Intercept length distribution - распределение длин отрезков
•Минеральные ассоциации
•Анализ восстановления
•Теоретическое соотношение :содержание/извлечение
•Индивидуальная настройка отчетов
•Drill down reports - Детальные отчеты
•Экспорт данных и изображений
•Интерактивные сводки
•Набор установок, которые распределяют измеренные частицы на категории: - По минеральному составу - По элементному составу - По полученным значениям - Простые и комплексные частицы
Управление системой • Источники данных могут анализироваться отдельно, вместе взятых, или по сравнению
• Расчеты:
- свойства элементарных частиц
- свойства зерна
- Режимное минералогии
- Анализ - рассчитывается из минеральных композиций
- Элементарный распределение по минералов
- Восстановление полезных ископаемых оценка
- Восстановление класса Element
-- Распределение частиц по размерам
- Минеральное распределение зерен по размерам
- Распределение плотности частиц
- Минеральные ассоциации
- Минеральное замок
- ОУМР - фаза удельная площадь поверхности
- Минеральное освобождение от состава частиц
- Минеральное освобождение от свободной поверхности
• Составление отчетов
- Шаблоны - используемые для настройки и запустить серию расчетов, могут быть экспортированы в различные форматы, включая Excel, Word, текст и базы данных
- Экспорт Буфер обмена
- DataSource фильтры
- Предустановленные и пользовательские классы освободительные
- Минеральные группировки
- Просмотр, сортировать и фильтровать изображения частиц в пределах определенного источник данных
Получение изображений • Разрешение до 6144 x 4096 пикселей
• Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG
• Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах
• 4-квадранта, прямая трансляция
• Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого
• усреднение или интегрирование 256 кадров
• Запись цифрового видеоизображения (.avi)
• Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение
Доступные программные функции • Системный менеджер MLA - SEM и EDS интерфейс и лицензирование
• MLA мера - модуль сбора данных, включает в себя уведомление по электронной почте при запуске завершении или прерывании
• MLA Редактор справочника минералов - позволяет создавать и изменять записанные в справочник минералы и стандарты
• MLA обработчик изображений - модуль анализа данных
• MLA инструмент передачи данных -  модуль управления проектами и данными
• MLA DataView - выборка из базы данных и модуль отчетов
• Встроенная база данных с Рентгеновскими спектрами  минералов и данных о свойствах более 500 минералов
• Минеральные свойства: индекс, название, присвоенный цвет (в петрографическом изображении), плотность, средний атомный номер, химическая формула, элементный состав, опорный спектр СЭД
• Пользователь может добавлять минеральные стандарты
• Возможность простого перемещения минеральных стандартов от одного файла стандарта в другой
• микширование Спектр: спектры из различных минералов могут быть смешаны используя различные пропорции для создания псевдо-спектров, которые могут быть добавлены в файл минеральных стандартов, для решения проблем с границами фаз (где объем  взаимодействия EDX распространяется через границы минерала)
• Калькулятор состава: элементный состав можно рассчитать от химических формул и автоматически обновлять свойства минералов 
Системные опции • Торможение пучка
• Ручной пользовательский интерфейс
• Вспомогательный ПК (включая второй  24-дюймовый монитор)
• Блок переключателей с программным управлением
• Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением
• Система WetSTEMTM с программным управлением
• Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением
• Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением
• Система криогенной очистки Cryocleaner
• Запасная ёмкость для Cryocleaner
• Газоинжекционные системы (GIS): до 2 устройств (другие виды вспомогательного оборудования могут накладывать ограничения на количество доступных газоинжекционных систем) для индуцированного электронным пучком  осаждения следующих материалов:
- Платина
- Вольфрам
- Углерод
• Прототипирование: интегрированное 16-битное приложение для формирования изображения, электронно-лучевая литография
• Джойстик
• AAS (автоматическая система настройки апертуры)
• Измеритель тока образца
• Программное обеспечение для дистанционного управления
• Комплект держателей образцов
• Акустический чехол для вакуумного насоса
• 7- или 52-контактный электрический вывод
• Электростатический бланкер пучка
• Комплект оснащения системой WDS
• Опциональная безмасляная система предварительного вакуума по дополнительному заказу (двойные спиральные вакуумные насосы)
• Встроенная система плазменной очистки
Требования по установке • Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %)
• Потребляемая мощность: • Сопротивление заземления: • Условия эксплуатации: температура 20 °C +/– 3 °С, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным  напряжением
• Ширина дверного проёма: 90 см
• Вес микроскопа с колонной: 530 кг
• Вес: электронного блока управления: 139 кг
• Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования)

• Сжатый воздух 4–6 бар — чистый, сухой, безмасляный
• Охладитель системы требуется лишь в том случае, если условия в помещении не соответствуют техническим условиям, приведённым в руководстве по предварительной установке
• Уровень шума: • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола)
• Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу
Похожая продукция
Центральный офис в г. Москва +7 (495) 781-07-85 info@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Санкт-Петербург +7 (812) 380-84-85 infospb@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Екатеринбург +7 (343) 287-12-85 infoural@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Киев +38 (044) 454-05-90 infoua@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Tallinn +372 5620-3281 info@melytec.ee Детальный просмотр