Prisma E

Фото продукции
  • Описание
  • Технические характеристики
  • Скачать
					Array
(
    [0] => Array
        (
            [TEXT] => Prisma E – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах  можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами. Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Prisma не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами.
            [TYPE] => text
        )

    [1] => Array
        (
            [TEXT] => 
Разрешение электронной оптики
• Высокий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)*
– 8.0 нм при 3 кВ (SE)
• Высокий вакуум с режимом торможения луча
– 7.0 nm @ 3 kV (BD mode* + DBS*)
• Низкий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)
– 10 нм при 3 кВ (SE)
• ESEM – 3.0 нм при 30 кВ (SE) Параметры электронного луча
• Диапазон тока пучка: до 2 мкА, непрерывно регулируемый
• Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В - 30 кВ
• Увеличение: от 6 до 1 000 000x

[TYPE] => html ) [2] => Array ( [TEXT] => Эвцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик 
Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм 
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм (зазор 85 мм до точки эвцентрики) 
Воспроизводимость результатов: < 3.0 мкм (при 0°) 
Эвцентрический наклон на высоте, оптимальной для решения аналитических задач: 10 мм 
Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +90°
[TYPE] => text ) [3] => Array ( [TEXT] =>
• Ширина: 340 мм
• Аналитическое рабочее расстояние 10 мм
• Количество портов: 12
• Угол выхода для детектора EDS: 35°

[TYPE] => html ) [4] => Array ( [TEXT] =>
Prisma E одновременно выводит до четырех сигналов из любой комбинации доступных детекторов или сегментов детектора:
• ETD – Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
• Низковакуумный детектор вторичных электронов (LVD)
• Газовый детектор вт. эл. (GSED) (используется в ESEM)
• ИК-камера для наблюдения за позиционированием образца
• Nav-Cam™: цветная оптическая навигационная камера
• DBS – направленный детектор обратно рассеянных
электронов; выдвижной или монтируемый на линзу.
• DBS-GAD – Налинзовый газовый аналитический детектор
• ESEM-GAD детектор SE (вторичных) и BSE (обратно
рассеянных) электронов при высоких давлениях
• STEM 3+ – выдвижной сегментированный детектор для\
прошедших электронов (BF, DF, HADF, HAADF)*
• WetSTEM™ – Стол для охлаждения интегрированный с
STEM для наблюдения тонких влажных образцов *
• RGB-CLD – цветной детектор катодолюминесценции
[TYPE] => text ) [5] => Array ( [TEXT] =>
• Измерение тока пучка электронов и вакуумной системы
• 1 × 250 литров/с TMН, 1 × форвакуумный насос
• Запатентованная дифференциальная откачка через линзу
• Длина пути прохождения луча: 10 мм или 2 мм
• Время откачки: ≤ 3,5 минуты до высокого вакуума и ≤ 4,5
минуты до ESEM
• Дополнительно: холодная ловушка CryoCleaner
• Дополнительно: обновление до безмасляной системы откачки
[TYPE] => text ) [6] => Array ( [TEXT] =>
• EDS
• WDS
• EBSD
• Криостолик
• Катодолюминесценция
• Прибор для измерения малых токов образца
• Наноманипуляторы
• Системы для литографии
• CAD-навигация
• Электрическое зондирование
[TYPE] => text ) [7] => Array ( [TEXT] =>
• Графический интерфейс с Windows 10 х64, клавиатура, мышь
• 24-дюймовый ЖК-дисплей, WUXGA 1920 × 1200 (второй
монитор опционально)
• Настраиваемый графический интерфейс пользователя, с
одновременным активным просмотром до 4 изображений
• Регистрация изображений
• Навигационный монтаж
• Программное обеспечение для анализа изображений
• Функции отмены / повтора
• Руководство пользователя для основных операций/приложений
• Опционально: джойстик
• Опционально: пользовательский интерфейс (панель управления)
[TYPE] => text ) [8] => Array ( [TEXT] =>
• Диапазон времени задержки от 25 нс до 25 мс / пиксель
• До 6144 × 4096 пикселей
• Тип файла: TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP
• Отображение изображения в одном кадре или в 4-х
• SmartSCAN (усреднение 256-кадров или интеграция,
интеграция строк и усреднение, чересстрочное сканирование)
• DCFI (компенсация дрейфа интеграцией кадров)
[TYPE] => text ) [9] => Array ( [TEXT] =>
• Технология сканирования SmartSCAN
• Автоматическая сшивка изображений
• Программное терморегулирование
• Интервальное получение изображений в 1–4 квадрантах
• Функция сохранения нескольких изображений
• Программная утилита FEI Movie Creator (создание специального .avi-файла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений)
• Функциональные возможности большого окна изображения (отображает изображение на отдельном мониторе, обеспечивает возможность отображения двух полноэкранных изображений, полученных от различных детекторов)
[TYPE] => text ) [10] => Array ( [TEXT] =>
In-situ аксессуары (дополнительно)
• Программно управляемый стол Пельтье -20°C до +60°C
• -//- нагревательный стол до 1000°C для ESEM
• -//- нагревательный стол до 1100°C для высокого вакуума
• -//- прецизионный нагревательный стол до 1200°C (μHeater)
• -//- нагревательный стол до 1400°C для ESEM
• Манипуляторы
• Крио столик
• Электрические зондирующие / многозондовые станции
Системные опции
• Торможение луча с параметрами смещения: -4000 В to +50 В
• Быстрый прерыватель луча
• Очистка образца / камеры: CryoCleaner, встроенный
плазменный очиститель
• QuickLoader™: шлюз для быстрой загрузки образцов
• Вспомогательный компьютер
• Панель управления
• Джойстик
• Анализаторы: EDS, EBSD, WDS, CL, Raman
• Интегрированный 16-битный паттерн-механизм,
электронные модули для литографии
• Измерение тока на с образца
• Набор держателей для образцов
[TYPE] => text ) [11] => Array ( [TEXT] =>
(Подробные данные см. в руководстве по предварительной
установке)
• Мощность:
- Напряжение 100 - 240 В переменного тока (-6%, + 10%)
- Частота 50 или 60 Гц (± 1%)
- Потребление: <3,0 кВА для базового микроскопа
• Сопротивление заземления <0,1 Ом
• Окружающая среда:
- Температура (20 ± 5) °
- Относительная влажность ниже 80%
- Плавные переменные магнитные поля <100 нТ асинхронные,
<300 нТ синхронно для линий, 20 мс (сеть 50 Гц) или 17 мс
(сеть 60 Гц)
• Минимальный размер двери: 0,9 м в ширину × 1,9 м
• Вес: консоль с колонной 550 кг
• Сухой азот рекомендуется для вентиляции
• Сжатый воздух 4-6 бар - чистый, сухой и безмасляный
• Акустика: <68 дБВ (исследование участка требуется в
зависимости от спектра акустики)
• Вибрации на месте: требуется исследование площадки
на соответствующий спектр вибрации пола
• Опционально: антивибрационная платформа
[TYPE] => html ) )

СЭМ Prisma E предлагает всестороннюю производительность в области визуализации и аналитики, уникальный режим естественной среды (ESEM) и полный набор аксессуаров, которые делают его самым полноценным СЭМ с высокоэффективной термоэмиссией, катодом из вольфрамовой нити.

Микроскоп имеет электронную пушку, обеспечивающую разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума при 30 кВ. Отличная разрешающая способность сочетается с высоким контрастом изображения, благодаря наличию передовых и сверхчувствительных детекторов. Три вакуумных режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) позволяют анализировать практически любой образец, в том числе и влажные образцы.

Особенности Prisma E – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами. Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Prisma не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами.
Характеристики электронной пушки
Разрешение электронной оптики
• Высокий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)*
– 8.0 нм при 3 кВ (SE)
• Высокий вакуум с режимом торможения луча
– 7.0 nm @ 3 kV (BD mode* + DBS*)
• Низкий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)
– 10 нм при 3 кВ (SE)
• ESEM – 3.0 нм при 30 кВ (SE) Параметры электронного луча
• Диапазон тока пучка: до 2 мкА, непрерывно регулируемый
• Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В - 30 кВ
• Увеличение: от 6 до 1 000 000x

Предметный столик Эвцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик 
Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм 
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм (зазор 85 мм до точки эвцентрики) 
Воспроизводимость результатов: < 3.0 мкм (при 0°) 
Эвцентрический наклон на высоте, оптимальной для решения аналитических задач: 10 мм 
Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +90°
Рабочая камера
• Ширина: 340 мм
• Аналитическое рабочее расстояние 10 мм
• Количество портов: 12
• Угол выхода для детектора EDS: 35°

Детекторы
Prisma E одновременно выводит до четырех сигналов из любой комбинации доступных детекторов или сегментов детектора:
• ETD – Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
• Низковакуумный детектор вторичных электронов (LVD)
• Газовый детектор вт. эл. (GSED) (используется в ESEM)
• ИК-камера для наблюдения за позиционированием образца
• Nav-Cam™: цветная оптическая навигационная камера
• DBS – направленный детектор обратно рассеянных
электронов; выдвижной или монтируемый на линзу.
• DBS-GAD – Налинзовый газовый аналитический детектор
• ESEM-GAD детектор SE (вторичных) и BSE (обратно
рассеянных) электронов при высоких давлениях
• STEM 3+ – выдвижной сегментированный детектор для\
прошедших электронов (BF, DF, HADF, HAADF)*
• WetSTEM™ – Стол для охлаждения интегрированный с
STEM для наблюдения тонких влажных образцов *
• RGB-CLD – цветной детектор катодолюминесценции
Вакуумная система
• Измерение тока пучка электронов и вакуумной системы
• 1 × 250 литров/с TMН, 1 × форвакуумный насос
• Запатентованная дифференциальная откачка через линзу
• Длина пути прохождения луча: 10 мм или 2 мм
• Время откачки: ≤ 3,5 минуты до высокого вакуума и ≤ 4,5
минуты до ESEM
• Дополнительно: холодная ловушка CryoCleaner
• Дополнительно: обновление до безмасляной системы откачки
Дополнительные аналитические возможности
• EDS
• WDS
• EBSD
• Криостолик
• Катодолюминесценция
• Прибор для измерения малых токов образца
• Наноманипуляторы
• Системы для литографии
• CAD-навигация
• Электрическое зондирование
Управление системой
• Графический интерфейс с Windows 10 х64, клавиатура, мышь
• 24-дюймовый ЖК-дисплей, WUXGA 1920 × 1200 (второй
монитор опционально)
• Настраиваемый графический интерфейс пользователя, с
одновременным активным просмотром до 4 изображений
• Регистрация изображений
• Навигационный монтаж
• Программное обеспечение для анализа изображений
• Функции отмены / повтора
• Руководство пользователя для основных операций/приложений
• Опционально: джойстик
• Опционально: пользовательский интерфейс (панель управления)
Получение изображений
• Диапазон времени задержки от 25 нс до 25 мс / пиксель
• До 6144 × 4096 пикселей
• Тип файла: TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP
• Отображение изображения в одном кадре или в 4-х
• SmartSCAN (усреднение 256-кадров или интеграция,
интеграция строк и усреднение, чересстрочное сканирование)
• DCFI (компенсация дрейфа интеграцией кадров)
Доступные программные функции
• Технология сканирования SmartSCAN
• Автоматическая сшивка изображений
• Программное терморегулирование
• Интервальное получение изображений в 1–4 квадрантах
• Функция сохранения нескольких изображений
• Программная утилита FEI Movie Creator (создание специального .avi-файла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений)
• Функциональные возможности большого окна изображения (отображает изображение на отдельном мониторе, обеспечивает возможность отображения двух полноэкранных изображений, полученных от различных детекторов)
Системные опции
In-situ аксессуары (дополнительно)
• Программно управляемый стол Пельтье -20°C до +60°C
• -//- нагревательный стол до 1000°C для ESEM
• -//- нагревательный стол до 1100°C для высокого вакуума
• -//- прецизионный нагревательный стол до 1200°C (μHeater)
• -//- нагревательный стол до 1400°C для ESEM
• Манипуляторы
• Крио столик
• Электрические зондирующие / многозондовые станции
Системные опции
• Торможение луча с параметрами смещения: -4000 В to +50 В
• Быстрый прерыватель луча
• Очистка образца / камеры: CryoCleaner, встроенный
плазменный очиститель
• QuickLoader™: шлюз для быстрой загрузки образцов
• Вспомогательный компьютер
• Панель управления
• Джойстик
• Анализаторы: EDS, EBSD, WDS, CL, Raman
• Интегрированный 16-битный паттерн-механизм,
электронные модули для литографии
• Измерение тока на с образца
• Набор держателей для образцов
Требования по установке
(Подробные данные см. в руководстве по предварительной
установке)
• Мощность:
- Напряжение 100 - 240 В переменного тока (-6%, + 10%)
- Частота 50 или 60 Гц (± 1%)
- Потребление: <3,0 кВА для базового микроскопа
• Сопротивление заземления <0,1 Ом
• Окружающая среда:
- Температура (20 ± 5) °
- Относительная влажность ниже 80%
- Плавные переменные магнитные поля <100 нТ асинхронные,
<300 нТ синхронно для линий, 20 мс (сеть 50 Гц) или 17 мс
(сеть 60 Гц)
• Минимальный размер двери: 0,9 м в ширину × 1,9 м
• Вес: консоль с колонной 550 кг
• Сухой азот рекомендуется для вентиляции
• Сжатый воздух 4-6 бар - чистый, сухой и безмасляный
• Акустика: <68 дБВ (исследование участка требуется в
зависимости от спектра акустики)
• Вибрации на месте: требуется исследование площадки
на соответствующий спектр вибрации пола
• Опционально: антивибрационная платформа
Похожая продукция
Центральный офис в г. Москва +7 (495) 781-07-85 info@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Санкт-Петербург +7 (812) 380-84-85 infospb@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Екатеринбург +7 (343) 287-12-85 infoural@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Киев +38 (044) 454-05-90 infoua@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Tallinn +372 5620-3281 info@melytec.ee Детальный просмотр