Сканирующий микроскоп FEI Prisma E

СЭМ Prisma E от Thermo Fisher Scientific — это современный высокопроизводительный прибор, созданный для решения задач академических и промышленных лабораторий, когда первостепенное значение имеет простота использования и все возможности системы должны быть доступны для операторов любого уровня подготовки.

Микроскоп имеет тетродную электронную пушку с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, обеспечивающую разрешение до 3 нм. Высокая разрешающая способность сочетается с прекрасным контрастом изображения благодаря наличию современных сверхчувствительных детекторов. Три вакуумных режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) позволяют анализировать практически любые образцы, в том числе жирные, влажные, газящие и непроводящие, без какой-либо пробоподготовки.

Это уникальное сочетание доступного универсального исполнения с широким набором детекторов и опций делает Prisma E идеальным решением для исследований и анализа в любой отрасли науки и производства. Типовое применение Prisma E — биология и медицина, характеризация микро и нанометриалов, анализ отказов и сопровождение техпроцессов, металлы и сплавы, трещины, сварные швы, магнитные и сверхпроводящие материалы, керамика, композиты, пластик, пленки и покрытия, геология и полезные ископаемые.

Тип микроскопа Сканирующий
Тип образцов Влажные, Металлы, Микроэлектроника, Минералы, Непроводящие
Разрешение от 3
Разрешение до 7
Область сканирования от 0
Область сканирования до 110
Особенности Prisma E – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами. Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Prisma не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами.
Характеристики электронной пушки
Разрешение электронной оптики
• Высокий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)*
– 8.0 нм при 3 кВ (SE)
• Высокий вакуум с режимом торможения луча
– 7.0 nm @ 3 kV (BD mode* + DBS*)
• Низкий вакуум:
– 3.0 нм при 30 кВ (SE)
– 4.0 нм при 30 кВ (BSE)
– 10 нм при 3 кВ (SE)
• ESEM – 3.0 нм при 30 кВ (SE) Параметры электронного луча
• Диапазон тока пучка: до 2 мкА, непрерывно регулируемый
• Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В - 30 кВ
• Увеличение: от 6 до 1 000 000x

Предметный столик Эвцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик 
Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм 
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм (зазор 85 мм до точки эвцентрики) 
Воспроизводимость результатов: < 3.0 мкм (при 0°) 
Эвцентрический наклон на высоте, оптимальной для решения аналитических задач: 10 мм 
Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +90°
Детекторы
Prisma E одновременно выводит до четырех сигналов из любой комбинации доступных детекторов или сегментов детектора:
• ETD – Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли
• Низковакуумный детектор вторичных электронов (LVD)
• Газовый детектор вт. эл. (GSED) (используется в ESEM)
• ИК-камера для наблюдения за позиционированием образца
• Nav-Cam™: цветная оптическая навигационная камера
• DBS – направленный детектор обратно рассеянных
электронов; выдвижной или монтируемый на линзу.
• DBS-GAD – Налинзовый газовый аналитический детектор
• ESEM-GAD детектор SE (вторичных) и BSE (обратно
рассеянных) электронов при высоких давлениях
• STEM 3+ – выдвижной сегментированный детектор для\
прошедших электронов (BF, DF, HADF, HAADF)*
• WetSTEM™ – Стол для охлаждения интегрированный с
STEM для наблюдения тонких влажных образцов *
• RGB-CLD – цветной детектор катодолюминесценции
Подробнее

Фото продукции

Похожая продукция