Просвечивающий микроскоп Talos

Растровый/просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) мощностью 200 кВ, обеспечивающий быстрое и точное количественное снятие характеристик наноматериалов в нескольких измерениях. Благодаря уникальным инновациям, разработанным для повышения производительности, точности и простоты эксплуатации, микроскоп Talos является идеальным выбором для углублённой научно-исследовательской работы в лабораториях, госструктурах и в сфере технических исследований.

Тип микроскопа Просвечивающий
Тип образцов Металлы, Микроэлектроника, Минералы, Непроводящие
Разрешение от 0.25
Разрешение до 30
Область сканирования от 0
Область сканирования до 0
Особенности Лучшие в отрасли оптические показатели: линза объектива постоянной мощности A-TWIN
· Максимальное удобство в использовании: быстрый и простой переход между операциями, подходит для многопользовательской эксплуатации
· Сверхстабильная платформа: линза объектива постоянной мощности, предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, жёсткий защитный корпус системы и возможность дистанционного управления обеспечивают максимальную стабильность работы прибора
· Камера SmartCam: цифровая камера, работающая по принципу «нашёл и посмотрел», упрощает работу всех приложений и позволяет работать в условиях дневного света
· Полностью интегрированный быстрый детектор: CMOS-камера Ceta 16 Мп обеспечивает широкую зону видимости и высокую скорость считывания (2 кадра/с при разрешении 4K и 18 кадров/с при разрешении 1K)
· Полностью дистанционное управление: автоматическая система настройки апертуры в сочетании с камерой Ceta поддерживает функцию полностью дистанционного управления
· Расширенные аналитические возможности: благодаря применению линз A-TWIN микроскоп Talos позволяет расширить аналитические возможности в трёхмерных объёмах посредством EDX- томографии
Характеристики электронной пушки Разрешение STEM HAADF: 0,16 нм

Информационный предел TEM: 0,12 нм
Разрешающая способность TEM по точкам: 0,25 нм
Диапазон увеличения STEM: 150×–230M×
Диапазон увеличения TEM: 25×–1,50M×
Яркость X-FEG: 1,8 x 109 A/см2/стерадиан (при 200 кВ)
Суммарный ток пучка: > 50 нA
Ток зонда: 0,4 нA в зонде 0,31 нм (при 200 кВ) 1,5 нA в зонде 1,0 нм (при 200 кВ)
Предметный столик Максимальный дифракционный угол: ± 12˚
Максимальный угол наклона с двойным наклонным держателем: ± 30˚
Максимальный гониометрический угол наклона (предметного столика): ± 90˚
Детекторы EDS-система Super-X: Симметричная безоконная конструкция с 2 или 4 SDD-детекторами с защитной заслонкой
Энергетическое разрешение: Быстрая EDS-съёмка: Пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс
Телесный угол EDX: 0,45/0,9 стерадиан
Подробнее

Похожая продукция