Многофункциональный дифрактометр D8 DISCOVER

Фото продукции
  • Описание
  • Технические характеристики
  • Видео
  • Скачать
					Array
(
    [0] => Array
        (
            [TEXT] => многофункциональный 
            [TYPE] => text
        )

    [1] => Array
        (
            [TEXT] => напольный
            [TYPE] => html
        )

    [2] => Array
        (
            [TEXT] => линейный, линейный    энергодисперсионный, двумерный, сцинтилляционный
            [TYPE] => text
        )

    [3] => Array
        (
            [TEXT] => 3 кВт
            [TYPE] => text
        )

    [4] => Array
        (
            [TEXT] => рентгеновская рефлектометрия,    картирование обратного пространства, некомпланарная дифракция и малоугловое    рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, высокоразрешающая рентгеновская дифракция
            [TYPE] => text
        )

)
				

Дифрактометр для нанотехнологий

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

  • • Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
  • • Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
  • • Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
  • • Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
  • • Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
  • • Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
  • • Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения
Тип многофункциональный 
Исполнение напольный
Детектор линейный, линейный энергодисперсионный, двумерный, сцинтилляционный
Мощность генератора 3 кВт
Применение рентгеновская рефлектометрия, картирование обратного пространства, некомпланарная дифракция и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей в скользящей геометрии, высокоразрешающая рентгеновская дифракция
Похожая продукция
Центральный офис в г. Москва +7 (495) 781-07-85 info@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Санкт-Петербург +7 (812) 380-84-85 infospb@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Екатеринбург +7 (343) 287-12-85 infoural@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Киев +38 (044) 454-05-90 infoua@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Tallinn +372 5620-3281 info@melytec.ee Детальный просмотр