-
ICP-OES высокого разрешения PQ 9100Для элементного анализа состава материалов
- Широкий рабочий диапазон (от доли ppb до %)
- Спектральное разрешение 2 пм при 200 нм
- Линейный динамический диапазон до 10 порядков
-
Спектрометр M1 MistralДля измерений в соответствие с регламентом ROHS
- Контроль безопасности по ГОСТ IEC 62321-3-1-2016
- Оснащен встроенным видеомикроскопом
- Сменные коллиматоры от 100 микрон до 1,5 мм
-
Промышленный томограф X5000Компьютерная томография и координатные измерения
- Ускоряющее напряжение: от 10 кВ до 450 кВ
- Различимость деталей: < 500 нм
- Максимальный размер области сканирования: 81 см — диаметр, 121 см — высота
-
СПЕКТРОМЕТР
S2 PUMA SERIES 2Анализ элементного состава различных материалов- Настольный, рентгенофлуоресцентый, энергодисперсионный
- Улучшенные высокочувствительные SDD детекторы
- Готовые пакеты калибровок
-
СЭМ для биологии Volumescope 2Технология Serial Block Face Imaging (SBFI) высокого разрешения
- Быстросъёмный микротом in-situ
- Система мульти-энергетической деконволюции срезов
- Полностью автоматизированный сбор данных для 3D-анализа
-
Испытательные машины LFM серииДля испытаний различных материалов на разрыв, сжатие, изгиб, срез и т.д.
- Напольное или настольное исполнение
- Максимальное усилие до 250 тонн
- Высокая точность измерений 0.5%
-
Rumul Gigaforte 50кНРезонансный пульсатор для испытаний на сверхмногоцикловую усталость
- Усталостные испытания с частотой до 1000 Гц
- 100 млн. циклов нагружения за менее чем 28 часов
- Максимальное усилие до 5 тонн
-
Анализатор газов (O/N/H) G6 LEONARDOАнализатор газов (O/N/ H) в неорганических материалах
- Экономичный анализ газов O, N, H или двойных комбинаций ON, OH
- Прямое и точное измерение газов, выходящих из образца
- Контроль температуры во время измерения
- Надежная система, регулируемые диапазоны
-
Оптико-цифровой микроскоп DSX1000Для материалографии, микроэлектроники, профилометрии, исследования макрообъектов
- Диапазон увеличений 20-7000х в одном микроскопе
- Методы контрастирования: BF, DF, DDF, MIX, OBQ, POL, DIC
- Полностью моторизованная оптическая система
-
Спектрометр Q4 POLOКомпактный искровой оптико-эмиссионный спектрометр
- Готовые пакеты калибровок
- CCD-детекторы высокого разрешения
- Библиотека марок
-
СПЕКТРОМЕТР ferro.lyteМобильный искровой оптико-эмиссионный спектрометр
- Выносной искровой зонд с сенсорным экраном
- Готовые пакеты калибровок
- Библиотека марок
-
Твердомер Виккерса серия Duramin-4Обеспечивает измерение по Виккерсу в микро и макро диапазонах
- 2 диапазона нагрузки: 0,01-2 кгс, 1 кгс-62,5 кгс
- Шкалы измерения твердости: Виккерс, Кнуп и Бринелль
- Автоматическое приложение нагрузки
-
Трибометр Nanovea T2000Высокоточные испытания на износ, скрэтч и трение согласно стандартами ISO и ASTM
- Активная пневматическая система нагружения с обратной связью
- Высокоточный датчик нагрузки
- Широкий спектр дополнительного оборудования
-
Прецизионный отрезной станок SecotomАвтоматический высокоточный отрезной станок для резки образцов диаметром до 70 мм
- Меню программного обеспечения на русском языке
- Режим резки твердых материалов Exicut
- Лазерная линейка
-
Thermo Scientific Phenom ProX G6Настольный сканирующий электронный микроскоп для решения рутинных задач
- Разрешающая способность до 6 нм (350 000х)
- Единый современный широкоформатный интерфейс
- Усовершенствованный алгоритм ЭДС анализа
-
Портативный спектрометр Tracer 5Единственный портативный спектрометр на рынке для анализа элементов от F до U
- Самый большой детектор — 40 мм² и скорость от 1 сек
- Подключение гелия или вакуума
- Встроенный марочник всех мировых сталей и сплавов
О компании
ООО «Мелитэк» — крупнейший поставщик исследовательского оборудования и сервисных услуг. Основным направлением деятельности является комплексное решение задач производственных и исследовательских организаций в области материаловедения, химического и фазового анализа, а так же физико-механических испытаний.
События
-
г. Москва
Выставка «Композит-Экспо»
15-я международная специализированная выставка
-
г. Москва
Выставка «ExpoElectronica»
25-я международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих. -
г. Москва
Выставка «Экспо Контроль»
Выставка приборов и средств для проведения промышленных измерений и обеспечения контроля качества.
Новости
Криоплазменный ФИП-СЭМ Arctis — полностью автоматизированное изготовление крио-ламелей из витрифицированных клеток.
Быстрая катодолюминесцентная характеризация образцов в цвете в режиме реального времени.
Новые инструменты для измерения твердости.
Продление сроков действия сертификатов об утверждении типа средства измерения.
Испытание канатов, тросов, арматуры на ползучесть и релаксацию напряжений.
Контроль качества покрытий из нитрида титана.
Испытания при повышенных и пониженных температурах.
Решения для испытаний элементов подвески транспортных средств.
Скрэтч-тест краски на металлической подложке.
Динамические эксперименты по нагреву до 1100° C в СЭМ и двулучевых системах.
Высокочастотные усталостные испытания на кручение.
Контроль качества дентальных и спинальных имплантатов.
Ионная полировка и локальная очистка поверхности образцов непосредственно в камере СЭМ.