Анализ текстур на рентгеновских дифрактометрах от компании Bruker

Текстурой называется преимущественное, кристаллографически ориентированное относительно внешней системы координат расположение кристаллитов в поликристаллических материалах (изделиях). Текстура образуется под влиянием анизотропии силовых условий при получении материала и (или) внешних воздействий. Практический интерес к текстурам связан с тем, что они вызывают анизотропию свойств. В металлических материалах текстура может возникать при кристаллизации, пластической деформации (обработка металлов давлением, в том числе прокатка), рекристаллизации, при росте тонких плёнок и покрытий. Одним из основных методов анализа текстур является рентгенографический анализ, выполняемый на рентгеновских дифрактометрах.

Компания Bruker предлагает рентгеновские дифрактометры D8 ADVANCE ECO, D8 ADVANCE, и D8 DISCOVER, оснащённые подвесками Эйлера (текстурными приставками) для проведения текстурного анализа материалов. Подвески Эйлера позволяют проводить измерение образцов различного размера и формы. Опциональная функция моторизованного или ручного перемещения по осям X-Y обеспечивает возможность анализа текстур в различных точках образцов большого размера. Измерения могут осуществляться с использованием одномерных и двумерных детекторов производства компании Bruker. Анализ измерений проводится в специализированном программном обеспечении DIFFRAC.TEXTURE, позволяющем проводить обработку компонентным методом, методом сферических гармоник с восстановлением функции распределения ориентировок, построением прямых и обратных полюсных фигур.

Подробнее о рентгеновских дифрактометрах здесь.