Система CIX100 от компании Olympus для решения задач в области материаловедения

Система CIX100 до недавних пор являлась узкоспециализированным инструментом для решения задач в области контроля технической чистоты, что заключалось в сканировании фильтра и анализа распределения частиц по ISO4406 и подобным стандартам. При этом, являясь полноценным оптическим моторизованным микроскопом, система не включала программные инструменты для материалографических исследований, вследствие чего пользователь был вынужден отдельно приобретать микроскоп для материалографии (например, для исследования металлографических шлифов).

С новым программным обеспечением для системы CIX100 пользователь может делать фотографии микроструктуры шлифов и проводить анализ: фазового состава, балла зерна, пористости, распределения частиц, распределения графита в чугуне, толщины покрытий.

Подробнее о микроскопе CIX100 здесь.