Сканирующий микроскоп Phenom Particle X

Уникальная комбинация настольного СЭМ, энергодисперсионного спектрометра и автоматизированного анализа для обеспечения контроля неметаллических включений в стали, анализа порошков для аддитивного производства и контроля технической чистоты:

ParticleX Steel — это многоцелевой настольный СЭМ, предназначенный для автоматизированного поиска и определения характеристик неметаллических включений в стали. ParticleX Steel предназначен для высококачественной визуализации и элементного анализа стальных образцов, что обеспечивает быстрое получение актуальных данных, необходимых для эффективного производства высококачественной стали.

ParticleX AM (Additive manufacturing) — контроль аддитивного производства. Это проверенное решение для мониторинга трех основных характеристик металлических порошков, использующихся для процессов производства порошкового слоя и порошковых добавок: мониторинг распределения частиц по размерам, анализ распределения частиц по размерам и выявление посторонних частиц. Интегрированный детектор ЭДС позволяет проанализировать элементный состав каждой отдельной частицы, позволяя легко идентифицировать любые посторонние частицы.

ParticleX TC (Technical cleanliness) — анализ технической чистоты. Данное решение позволяет проводить автоматизированный анализ посредством сканирующей электронной микроскопии с использованием энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС). Это главное преимущество перед световой микроскопией, поскольку сочетание СЭМ + ЭДС позволяют классифицировать частицы по элементному составу, обеспечивая более глубокое понимание производственных процессов и/или параметров окружающей среды. Доступны стандартные отчеты, соответствующие VDA 19 / ISO 16232.

Все модификации Phenom ParticleX позволяют автоматически проводить поиск интересующих объектов на указанной области, сохранять их морфологические данные, а также автоматически получать информацию об элементном составе каждой найденной частицы или включения.