Сканирующий микроскоп Phenom Particle X
Настольный сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific Phenom ParticleX
Уникальная комбинация настольного СЭМ и автоматизированного анализа для обеспечения технической чистоты и для проведения исследований для нужд аддитивного производства.
Данная система позволяет автоматически проводить поиск частиц на указанной области, сохранять морфологические данные по каждой обнаруженной частице, а также автоматически получать информацию о элементном составе найденных частиц, что обеспечивает решение задач:
- автоматическое обнаружение частиц
- автоматический анализ ЭДС
- автоматическая классификация частиц
- автоматическое создание отчета
Система максимально проста в правлении, имеет понятный и настраиваемый пользовательский интерфейс, а также не требовательна к внешним условиям и может быть установлена практически в любом помещении.
За счет адаптации ПО и макросов можно приспособить СЭМ Phenom ParticleX для анализа по задачам пользователя, которые включают поиск и анализ частиц с получением информации о их морфологии и элементном составе.
| Тип микроскопа | Сканирующий |
| Тип образцов | Непроводящие |
| Разрешение от | 14 |
| Разрешение до | 30 |
| Область сканирования от | 0 |
| Область сканирования до | 100 |
| Особенности |
|
| Характеристики электронной пушки | Термоэмиссионный источник из гексаборида церия (CeB6)
|
| Предметный столик | Стандартный предметный столик вмещает:
Опционально:
|
| Детекторы | Высокочувствительный четырехсегментный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) для определения элементного состава. Опционально: детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ET-SED). |
Фото продукции
