Сканирующий микроскоп Phenom Particle X

Настольный сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific Phenom ParticleX

Уникальная комбинация настольного СЭМ и автоматизированного анализа для обеспечения технической чистоты и для проведения исследований для нужд аддитивного производства.

Данная система позволяет автоматически проводить поиск частиц на указанной области, сохранять морфологические данные по каждой обнаруженной частице, а также автоматически получать информацию о элементном составе найденных частиц, что обеспечивает решение задач:

  • автоматическое обнаружение частиц
  • автоматический анализ ЭДС
  • автоматическая классификация частиц
  • автоматическое создание отчета

Система максимально проста в правлении, имеет понятный и настраиваемый пользовательский интерфейс, а также не требовательна к внешним условиям и может быть установлена практически в любом помещении.

За счет адаптации ПО и макросов можно приспособить СЭМ Phenom ParticleX для анализа по задачам пользователя, которые включают поиск и анализ частиц с получением информации о их морфологии и элементном составе.

Тип микроскопа Сканирующий
Тип образцов Непроводящие
Разрешение от 14
Разрешение до 30
Область сканирования от 0
Область сканирования до 100
Особенности
  • Оптическая камера: увеличение 3х-16х, цветная
  • Цифровой зум: до 12х
  • Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 40 секунд.
Характеристики электронной пушки

Термоэмиссионный источник из гексаборида церия (CeB6)

  • Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ. (Расширенный режим от 4.8 кВ до 20 кВ)
  • Разрешение: <14 нм
  • Увеличение: 100 000x
Предметный столик

Стандартный предметный столик вмещает:

  • 36 образцов диаметром 12 мм
  • образец до 100×100 мм, высотой до 45 мм

Опционально:

  • Держатели для: наклона, поворота, растяжения, сжатия
  • Максимальный размер образца: 100×100 мм, высотой до 65 мм
Детекторы Высокочувствительный четырехсегментный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы).
Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) для определения элементного состава.
Опционально: детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ET-SED).
Подробнее

Фото продукции