Сканирующий микроскоп Phenom Particle X

Уникальная комбинация настольного СЭМ, энергодисперсионного спектрометра и автоматизированного анализа для обеспечения контроля неметаллических включений в стали, анализа порошков для аддитивного производства и контроля технической чистоты:

ParticleX Steel — это многоцелевой настольный СЭМ, предназначенный для автоматизированного поиска и определения характеристик неметаллических включений в стали. ParticleX Steel предназначен для высококачественной визуализации и элементного анализа стальных образцов, что обеспечивает быстрое получение актуальных данных, необходимых для эффективного производства высококачественной стали.

ParticleX AM (Additive manufacturing) — контроль аддитивного производства. Это проверенное решение для мониторинга трех основных характеристик металлических порошков, использующихся для процессов производства порошкового слоя и порошковых добавок: мониторинг распределения частиц по размерам, анализ распределения частиц по размерам и выявление посторонних частиц. Интегрированный детектор ЭДС позволяет проанализировать элементный состав каждой отдельной частицы, позволяя легко идентифицировать любые посторонние частицы.

ParticleX TC (Technical cleanliness) — анализ технической чистоты. Данное решение позволяет проводить автоматизированный анализ посредством сканирующей электронной микроскопии с использованием энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС). Это главное преимущество перед световой микроскопией, поскольку сочетание СЭМ + ЭДС позволяют классифицировать частицы по элементному составу, обеспечивая более глубокое понимание производственных процессов и/или параметров окружающей среды. Доступны стандартные отчеты, соответствующие VDA 19 / ISO 16232.

Все модификации Phenom ParticleX позволяют автоматически проводить поиск интересующих объектов на указанной области, сохранять их морфологические данные, а также автоматически получать информацию об элементном составе каждой найденной частицы или включения.

Тип микроскопа Сканирующий
Тип образцов Непроводящие
Разрешение от 14
Разрешение до 30
Область сканирования от 0
Область сканирования до 100
Особенности
  • Оптическая камера: увеличение 3х-16х, цветная
  • Цифровой зум: до 12х
  • Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 40 секунд.
Характеристики электронной пушки
  • Термоэмиссионный источник из гексаборида церия (CeB6)
  • Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ. (Расширенный режим от 4.8 кВ до 20 кВ)
  • Разрешение: <10 нм
  • Увеличение: 200 000x
Предметный столик

Стандартный предметный столик вмещает:

  • 36 образцов диаметром 12 мм
  • образец до 100×100 мм, высотой до 45 мм

Опционально:

  • Держатели для: наклона, поворота, растяжения, сжатия
  • Максимальный размер образца: 100×100 мм, высотой до 65 мм
Детекторы Высокочувствительный четырехсегментный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы).
Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) для определения элементного состава.
Опционально: детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ET-SED).
Подробнее

Фото продукции