Просвечивающий микроскоп Spectra 300

Просвечивающий сканирующий электронный микроскоп Spectra 300 S/TEM.

Spectra 300 S/TEM — это универсальное решение для характеризации материалов на субатомарном уровне с ультра-сверхвысоким разрешением флагманской линейки сканирующих просвечивающих электронных микроскопов от компании Thermo Fisher Scientific.

Благодаря сочетанию объектива с большим зазором (объектив Thermo Scientific S-TWIN), превосходной оптики и аналитики, Spectra 300 S/TEM обеспечивает производительность и гибкость в одном приборе. Усовершенствованный корректор астигматизма (A5) зонда (S-CORR) на Spectra 300 S/TEM обеспечивает высочайшие характеристики по разрешению в STEM при 300 кВ (50 пм) и при 60 кВ (96 пм), а также даёт возможность проведения динамических экспериментов in-situ и 3D EDS томографии без необходимости использования нестандартных держателей или типов образцов. При использовании монохроматора X-FEG UltiMono система может работать на уровне сверхвысокого энергетического разрешения <25 мэВ.

Мощное передовое программное обеспечение позволяет использовать специальные методы, такие как интегрированный дифференциальный фазовый контраст (iDPC), для исследования магнитных и электрических свойств материалов, а также для оптимизации Z-контрастной визуализации от водорода до урана. С помощью новых пакетов автоматизации OptiSTEM+ и OptiMono+ всем пользователям Spectra 300 S/TEM доступен полностью автоматизированный доступ «в один клик» к экспериментам c самым высоким разрешением в STEM (<50 пм) и разрешением по энергиям в EELS (<30 мэВ).

Spectra 300 S/TEM оснащен совершенно новой системой детектирования Panther — сегментированным модулем детектирования в STEM и системой обработки данных. Вся цепочка обработки сигналов оптимизирована и настроена на формирование изображения с беспрецедентным отношением сигнал/шум при работе с чрезвычайно низкими токами зонда (<1 пА), что открывает широкие возможности при работе с чувствительными к облучению материалами. Полностью переработанная инфраструктура обработки данных предлагает возможность комбинирования 16-ти сегментов детектора произвольным образом и масштабируемый интерфейс для синхронизации сигналов STEM и спектроскопических сигналов.

Spectra 300 S/TEM от Thermo Fisher Scientific является платформой для визуализации и спектроскопии самого высокого пространственного и энергетического разрешения и подходит для широчайшего спектра исследований материалов.

Тип микроскопа Просвечивающий
Тип образцов Нет
Разрешение от
Разрешение до
Область сканирования от
Область сканирования до
Особенности Построен на ультра-стабильной основе.
Новый источник X-FEG UltiMono или холодный автоэмиссионный катод сверхвысокой яркости (X-CFEG).
Новые Image-корректор и корректор аберраций (до 5-го порядка) зонда S-CORR с ПО CEOS с возможностью последующего апгрейда «в поле».
Симметричные объективные линзы с широким зазором S-TWIN.
Lorentz-режим для работы с магнитными образцами.
Система автоматический апертур и Smart-камера предварительного обзора для удалённой работы.
Высокое качество изображения STEM для всех ускоряющих напряжений.
Беспрецедентная чувствительность детектирующей системы Panther STEM.
Новые возможности для аналитики в STEM.
Характеристики электронной пушки Катод типа Шоттки с монохроматором X-FEG Mono/UltiMono или холодный автоэмиссионный катод сверхвысокой яркости (X-CFEG).
Диапазон ускоряющих напряжений: от 30 кВ до 300 кВ.
Разброс по энергиям: 0,2-0,4 эВ
Разрешение по энергиям: от 0,1 эВ до <0,03 эВ (X-FEG UltiMono)
Информационный предел: 60pm (с Image-корректором)
Разрешение в STEM: 50 pm (с корректором зонда)
Предметный столик Компьютеризированный 5-осевой сверхстабильный пьезостол.
Точность перемещений 20 pm.
Диапазон наклона ± 40 градусов для аналитического двойного держателя. С держателем для томографии ± 75 градусов.
Держатель для динамических экспериментов in-situ (нагрев, охлаждение, STM/AFM).
Линейная компенсация дрейфа.
Детекторы EDX-детекторы Super-X/Dual-X
Gatan Ultrafast EELS/DualEELS
HAADF детектор
Два восьмисегментных BF и ADF детектора (система Panther STEM)
Детектор Electron microscope pixel array detector (EMPAD)
Подробнее

Фото продукции

Похожая продукция