Просвечивающий электронный микроскоп Spectra 300

Spectra 300 — универсальное решение для характеризации материалов на субатомарном уровне с ультрасверхвысоким разрешением. Сочетание объектива с большим расстоянием между полюсными наконечниками, превосходной оптики и аналитики дает возможность проведения динамических экспериментов in-situ и высокоразрешающей 3D-ЭДС-томографии без необходимости использования нестандартных держателей. Усовершенствованный корректор астигматизма (A5) зонда (S-CORR) обеспечивает высочайшие характеристики по разрешению в СПЭМ - 50 пм при 300 кВ, 96 пм при 60 кВ. Монохроматор X-FEG UltiMono позволяет работать на уровне сверхвысокого энергетического разрешения < 0,025 эВ. Передовое оборудование и мощное ПО позволяют использовать специальные методы, такие как интегрированный дифференциальный фазовый контраст (iDPC). С помощью новых пакетов автоматизации OptiSTEM+ и OptiMono+ доступен полностью автоматизированный доступ к экспериментам c самым высоким разрешением в СПЭМ (< 50 пм) и с разрешением по энергиям с использованием фильтра энергетических потерь < 30 мэВ.

Основные преимущества:

  • ультрасверхвысокое латеральное и энергетическое разрешение;
  • источник электронов сверхвысокой яркости X-FEG с монохроматором UltiMono;
  • СПЭМ-детектор нового поколения;
  • корректор аберраций 5-го порядка;
  • корректор изображения;
  • автоматизация сложных процедур настройки с помощью ПО OptiSTEM+ и OptiMono+;
  • активная виброизоляция iVIS.
Тип микроскопа Просвечивающий
Область применения Материаловедение
Направление деятельности 3D-анализ
Объекты интереса 0,1 Ȧ – 1 Ȧ
Характеристики электронной пушки
Тип катода
Катод типа Шоттки сверхвысокой яркости X-FEG с монохроматором UltiMono Наличие
Холодный автоэмиссионный катод X-CFEG Опция
Катод типа Шоттки Нет
Катод типа Шоттки повышенной яркости X-FEG Нет
Термоэмиссионный катод (W, LaB6) Нет
Диапазон ускоряющего напряжения, кВ 30–300
Максимальное разрешение по линии, пм Н/д
Максимальное разрешение по точкам, пм Н/д
Максимальное разрешение в СПЭМ, пм ≤ 50
Максимальное разрешение по энергиям, эВ от 1 до < 0,03
Информационный предел, пм ≤ 60
Гониометр
Компьютеризованный 5-осевой сверхстабильный Наличие
Компьютеризованный 5-осевой Нет
Компьютеризованный 4-осевой Нет
Пьезо Наличие
Механический Нет
Точность перемещения, пм 20
Наклон, град. ±40
Держатели
Однонаклонный Наличие
Двунаклонные Опция
Аналитические Опция
Томографические Опция
С нагревом Опция
STM/AFM Опция
Image-корректор Опция
Probe-корректор
S-CORR Probe корректор Опция
Монохроматор
Mono Наличие
UltiMono Опция
Камера Ceta 16M
Детекторы
HAADF Опция
BF/DF Опция
СПЭМ (STEM) Опция
Imaging filter Опция
Фильтр энергетических потерь (EELS) Опция
EMPAD Опция
Gatan OneView/OneView IS Опция
ЭДС Super-X/Dual-X Наличие
ЭДС Нет
Falcon 4 Нет
Phase Plate Нет
Дополнительное оборудование
Линза Лоренца Опция
Пакет 4х4 STEM Опция
Автозагрузчик Cryobox Нет
Программное обеспечение
OptiSTEM+ Опция
UltiMono+ Опция
CEOS Наличие
Tip Flash Опция
MAPS Опция
TrueImage Atlas Опция
MicroED Опция
Удалённый доступ (Remote access) Опция
CrystalPack Опция
Технология Low Dose Опция
Avizo Опция
Amira Нет
Inspect 3D Опция
EPU Нет
TEM Scripting Опция
Align Genie Опция
Epsilon Опция
Подробнее

Фото продукции

Похожая продукция