Просвечивающий микроскоп Titan

Фото продукции
  • Описание
  • Технические характеристики
  • Видео
  • Скачать
Просвечивающий электронный микроскоп Titan предназначен для высокопроизводительного формирования субангстремных изображений для двухмерного и трёхмерного анализа на атомарном уровне.
Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации (Cs), монохроматорная система и чувствительная технология ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и
16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин.
Особенности Высочайшая производительность. В основе Titan лежит мощное программное обеспечение Velox — разработка компании FEI. ПО Velox обеспечивает одновременное обнаружение нескольких сигналов от четырёх детекторов, что ускоряет формирование изображения сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (S/TEM). Кроме того, Velox поддерживает новые функции, например формирование изображений дифференциального фазового контраста (DPC) для исследования внутренних магнитных и электрических полей — даже между атомами. Получить данные о химическом составе и состоянии связей можно невероятно быстро: со скоростью до 1000 спектров/с при одновременном сборе данных энергодисперсионной спектроскопии (EDS) и спектроскопии потерь энергии электронов (EELS) и с лидирующей в отрасли скоростью 100 000 спектров/с при сборе данных EDS. Благодаря Velox данные трёхмерного анализа теперь можно получить в сроки, которые прежде требовались для обработки двухмерного изображения.
Исключительное качество изображений S/TEM. Программное обеспечение Velox Capture и
Cs-корректированная оптика обеспечивают высочайшее качество изображения благодаря новой интеллектуальной технологии сканирования — интегрированию кадров с компенсацией дрейфа (Drift Corrected Frame Imaging, DCFI). Эту технологию можно совместить с рекурсивными возможностями химической визуализации микроскопа Titan, после чего направить финальный набор данных на постобработку.
Расширение аналитических возможностей. Программный модуль для написания скриптов Velox, поддерживающий работу с популярным в научно-исследовательских кругах языком программирования CPython, позволяет существенно расширить возможности количественного анализа.
Характеристики электронной пушки •  Корректор изображений:
Разброс по энергии: 0,7–0,8 В**
Разрешающая способность по точкам: 80 пм
Информационный предел: 80 пм
Разрешение STEM: 136 пм
•  Корректор зонда:
Разброс по энергии: 0,7–0,8 В**
Разрешающая способность по точкам: 200 пм
Информационный предел: 100 пм
Разрешение STEM: 70 пм
•  Монохроматор /X-FEG корректор изображений и зонда:
Разброс по энергии: 0,2–0,3 В**
Разрешающая способность по точкам: 80 пм
Информационный предел: 70 пм
Разрешение STEM: 70 пм
•  Корректор изображений и зонда:
Разброс по энергии: 0,7–0,8 В**
Разрешающая способность по точкам: 80 пм
Информационный предел: 80 пм
Разрешение STEM: 70 пм
• Новая трёхлинзовая конденсаторная система с количественной индикацией угла сведения и размера облучаемой поверхности для количественного измерения электронной дозы и условий облучения
Гибкий диапазон по высокому напряжению: Titan Themis 300 и Titan Themis3 300: 60–300 кВ (60, 80, 120, 200, 300 кВ); Titan Themis 200: 80–200 кВ (80, 120, 200 кВ)
• Монохроматор электронной пушки для достижения высокого разрешения EELS и улучшенного пространственного разрешения, особенно в случае низкокиловольтной HR-S/TEM
• STEM и TEM: Titan Themis 300 и Titan3 Themis 300: до 70 пм как для STEM, так и для TEM; Titan Themis 200: 90 пм для TEM, 80 пм для STEM
Предметный столик · Одинарный наклонный держатель
· Двойной наклонный держатель
· Томографический держатель
· Функциональные держатели (список по запросу)
• Новый компьютеризированный 5-осевой предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий точное восстановление положения из памяти, отслеживание просмотренных в ходе исследования областей и сверхустойчивое высокое разрешение на субангстремном уровне с низким смещением образца
• Новый предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий возможность перемещения с минимальным шагом 20 пм при центрировании нужной области в зоне видимости
• Линейная компенсация смещения, обеспечиваемая предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом и позволяющая снизить зависимость от ограничений, которые накладываются тепловым дрейфом, неизбежно возникающим в ходе экспериментов с нагревом или охлаждением in situ
• Амплитуда наклона ± 40 градусов для аналитического двойного наклонного держателя, позволяющая максимально приблизиться к оси кристалла поликристаллического материала. Томографический держатель обеспечивает наклон до ± 75 градусов для минимизации отсутствующего клина на трёхмерных реконструкциях
Рабочая камера • Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM• Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM
Детекторы · HAADF-детектор
· Расположенные на оси тройные детекторы DF1/DF2/BF
· Камера Ceta 16M
· Камеры Gatan US1000/US4000 Серия энергетических фильтров Gatan
· Super-X: высокочувствительная безоконная система EDX-детекторов на базе технологии SSD (запатентованная разработка)
· Выходная интенсивность до 200 килоимпульсов в секунду
Энергетическое разрешение Телесный угол 0,7 стерадиан
· Комбинированная площадь обнаружения 120 мм²
Скоростная съёмка: пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс
Высокое отношение пика сигнала к сигналу от газового пузыря (число Фиори) > 4000
Превосходные дырочные характеристики ( Низкий уровень фона в режиме EDX ( · Обнаружение всех элементов вплоть до бора
Управление системой • Фокусное программное приложение TrueImage™ для количественных применений TEM высокого разрешения (более подробные сведения см. в отдельном информационном листке)
• Программное обеспечение Xplore3D™ для автоматических томографических экспериментов S/TEM и программное обеспечение Xplore3D Xpress для сверхбыстрых трёхмерных реконструкций (более подробные сведения см. в отдельном информационном листке)
Требования по установке Для получения информации о требованиях и характеристиках прибора обращайтесь на: info@melytec.ru
Похожая продукция
Центральный офис в г. Москва +7 (495) 781-07-85 info@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Санкт-Петербург +7 (812) 380-84-85 infospb@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Екатеринбург +7 (343) 287-12-85 infoural@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Киев +38 (044) 454-05-90 infoua@melytec.ru Детальный просмотр
Филиал в г. Tallinn +372 5620-3281 info@melytec.ee Детальный просмотр