Конфокальный микроскоп LEXT OLS 5100

Конфокальный микроскоп Olympus LEXT OLS5100 предназначен для изучения структуры и топографии поверхности образцов любых типов. Благодаря точности измерения микроскоп подходит как для исследования материалографических образцов, так и для контроля качества измерительных, металлообрабатывающих и медицинских инструментов, микроэлектронных компонентов и иных деталей. Отличается удобством, простотой и высокой скоростью работы. Объединяет в себе исследовательский оптический моторизованный микроскоп, лазерный конфокальный измерительный микроскоп, а также лазерный профилометр-профилограф. Микроскоп внесен в Государственный реестр средств измерений.

    Основные преимущества:
  • двухканальная система лазерного сканирования;
  • измеряемая высота по оси Z — от 6 нм;
  • латеральное разрешение изображения в лазерном режиме — 120 нм;
  • возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
  • разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования — 4096 × 4096 точек;
  • возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.
Применение геометрические измерения, измерение шероховатости, материаловедение, микроэлектроника
Тип Измерительный
Методы контрастирования светлое поле, ДИК, простая поляризация, конфокальный лазерный
Возможность моторизации Да
Увеличение от 57
Увеличение до 17280
Оптическая система UIS2 (скорректированная на бесконечность); Лазерная конфокальная
Осветители Полупроводниковый лазер 405 нм
Револьвер объективов Моторизированный 6-позиционный для светлого поля/ДИК
Предметные столики Ручной, мм: 100 x 100 мм; Моторизованный, мм: 100 х 100, 300 х 300
Подробнее

Фото продукции